Journal de Physique IV

Radiocristallographie et biologie structurale p. C4-3

D. Moras

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996401

La méthode de Laue refocalisée à haute énergie : une technique d'étude en volume des monocristaux p. C4-13

P. Bastie and B. Hamelin

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996402

Siemens Smart CCD Detector Applied to Protein Crystallography with Synchrotron and Rotating Anode X-Ray Sources p. C4-23

E. Hovestreydt, J. Phillips, J. Chambers, J. Fait, M. Schuster and R. Sparks

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996403

Les rayons X et la structure des amorphes p. C4-33

M. Popescu

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996404

Structure colomnaire de cristaux liquides p. C4-41

D. Guillon and A. Skoulios

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996405

Evolution des paramètres de maille de LiNb0₃ dopé par le potassium ou le magnésium p. C4-49

O. Cerclier, V. Grachev, J. Estienne and G. Malovichko

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996406

La diffraction des rayons X par les poudres cent ans après Röntgen p. C4-57

D. Louër

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996407

Diffraction des rayons X par un polycristallin et microstructure en domaines ferroélectriques p. C4-71

C. Valot, N. Floquet, M. Mesnier and J.-C. Niepce

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996408

X-Ray Diffraction Study of Structural Transformations of Aluminous 2:1 Layer Silicates During Dehydroxylation p. C4-91

V.A. Drits, G. Besson and F. Muller

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996409

Une technique de correction du "décalage" d'un échantillon au cours d'expériences sur un diffractomètre à compteur à localisation courbe p. C4-103

F. Bernard, F. Charlot and P. Sarrazin

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996410

Diffraction des rayons X en réflexion sous incidence fixe. Mise en œuvre d'un détecteur courbe à localisation (CPS 120 Inel) p. C4-111

R. Guinebretière, O. Masson, M.C. Silva, A. Fillion, J.P. Surmont and A. Dauger

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996411

Utilisation de la diffraction de rayons X pour l'étude de traitements de surface laser p. C4-123

F. Hlawka, G.Q. Song and A. Cornet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996412

Mesures précises à l'aide d'un détecteur courbe p. C4-127

J. Roux and M. Volfinger

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996413

Etude des phases d'un clinker par diffractométrie des rayons X : vers la quantification p. C4-135

M. Signes-Frehel, P. Maes and C. Haehnel

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996414

Application de la diffraction des rayons X à l'identification des produits de corrosion du fer dans l'eau de la nappe d'Alsace p. C4-143

N. Llopiz and A. Cornet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996415

Histoire et état actuel de l'analyse des contraintes par rayons X p. C4-151

B. Eigenmann and E. Macherauch

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996416

Nouvel appareillage de diffraction X pour l'analyse de l'état mécanique (contraintes et microdéformations) de films minces nanocristallins p. C4-187

Ph. Goudeau, K.F. Badawi, A. Naudon, M. Jaulin, N. Durand, L. Bimbault and V. Branger

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996417

Influence des hétérogénéités de déformation élastique sur l'élargissement des pics de diffraction X p. C4-197

P. Mabelly, P. Hadmar, M. Desvignes and J.M. Sprauel

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996418

Détermination des contraintes résiduelles par diffractométrie X des couches biphasées. Application au cas de la cémentation p. C4-211

F. Bloquel, L. Barrallier, G. Bourse and J. Dürr

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Détermination des contraintes par diffractométrie X dans le cas d'alliages métalliques polyphasés p. C4-219

P. Hadmar, P. Mabelly, L. Barrallier and J.M. Sprauel

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Etude des contraintes résiduelles dans les multicouches Au/Ni p. C4-231

L. Barallier, S. Labat, O. Thomas, C. Alfonso, A. Charaï, B. Gilles and A. Marty

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996421

Techniques de mesures de contraintes résiduelles. Contribution à l'étude de l'amélioration de la tenue en fatigue d'alliages d'aluminium utilisés en aéronautique p. C4-239

C. Villard, A. Viola, E. Zeller, P. Castellucci and J.M. Duchazeaubeneix

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996422

Analyse de dépôts PVD de tantale par diffraction X p. C4-251

L. Chekour, J. Krier, R. Halimi and A. Cornet

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Experimental Equipment for Studying the Residual Stresses Developed During High Temperature Reactions by X-Ray Diffraction p. C4-259

F. Bernard, E. Sciora and N. Gerard

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996424

Analyse par diffraction X des contraintes résiduelles générées par le procédé de fabrication des ressorts de soupape hélicoïdaux p. C4-267

J. Krier, P. Mille and A. Cornet

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Evolution des contraintes résiduelles de l'acier à roulements EZ100CD17 en fonction des conditions d'élaboration, en fatigue de contact : mesures par diffraction X p. C4-273

P. Poupon-Clairet, R.Y. Fillit, J.M. Dewulf, J.M. de Monicault and F. Montheillet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996426

La diffraction des rayons X : un outil pour l'étude des réactions solides-gaz (avantages et développements) p. C4-279

Ch. Valot, D. Ciosmak, M.T. Mesnier, E. Sciora,, M. Lallemant, J.J. Heizmann, A. Vadon and C. Lamelle

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Nouvelle méthode de quantification des orientations cristallines par figures de pôles haute résolution et ultra-rapides p. C4-297

R.Y. Fillit, F. Duchemin and J.M. Becker

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996428

Optimisation de la mesure de figures de pôles en diffraction X p. C4-307

F. Wagner, M. Stosse and C. Nauer-Gerhardt

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Rayons X rasants et surfaces p. C4-321

M. Brunel

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996430

Présentation des possibilités de la diffraction de surface en ultra-vide sur les lignes françaises à l'ESRF p. C4-341

A. Barbier, R. Baudoing-Savois, G. Renaud, M. de Santis, O. Robach, M.-C. Saint-Lager, P. Jeantet, P. Taunier, J.-P. Roux, O. Ulrich et al. (3 more)

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996431

Réflectométrie X et diffusion aux petits angles p. C4-351

B. Pardo, F. Bridou and M. Maaza

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Utilisation du spectre de Fourier des courbes de réflectivité X pour l'étude d'empilements de couches minces p. C4-367

F. Bridou and B. Pardo

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996433

Multilayer Reflectors for Improving the Primary Beam Intensity: Reflectivity Measurements on Coated Glasses p. C4-385

A. Knoll and L. Brügemann

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Microscopie X par réflexion totale et diffraction de Kossel à incidence rasante : premiers résultats p. C4-393

D. Erre, H. Jibaoui and J. Cazaux

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Diffraction des rayons X en incidence rasante pour l'analyse des transformations structurales de surfaces d'aciers induites par implantation ionique multiple p. C4-399

P. Andreazza, X. de Buchere and R. Erre

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Etude de matériaux multicouches par réflectivité X en incidence rasante. Méthode par dispersion d'énergie. Comparaison théorie-expérience p. C4-409

H. Duval, J.C. Malaurent, G. Cauchon and P. Dhez

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L'apport des rayons X à l'étude des surfaces et interfaces p. C4-417

J.-P. Deville

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996438

Caractérisation par émission X de films d'oxyde et d'oxynitrure de chrome déposés par pulvérisation magnétron réactive p. C4-429

J. Baborowski, M. Charbonnier and M. Romand

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996439

Caractérisation structurale et morphologique de couches minces épitaxiées de ZnSe déposées sur GaAs p. C4-441

M. Robino, A. Chergui, J.L. Deiss, J.L. Loison and J.P. Vola

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996440

Etude XPS de surfaces de nylon 6 traitées par un plasma d'oxygène en post-décharge p. C4-451

A. Scheuer, J. Hommet and J.-P. Deville

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996441

L'étude par diffraction de rayons X des couches dures de carbonitrure de tungstène et de titanium produites par ablation laser réactive p. C4-461

N. Chitica, A. Lita, G. Marin, I.N. Mihailescu, M. Popescu, C. Grivas and A. Hatziapostolou

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996442

Nouvelles applications de la spectrométrie d'émission X induite par excitation électronique de basse énergie (LEEIXS) en analyse de surface p. C4-467

M. Romand, M. Charbonnier and J. Baborowski

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996443

Etude par diffraction X d'un acier inoxydable traité par implantation ionique à haute énergie p. C4-475

V. Lallemand, D. Muller, P. Mille, A. Cornet, P. Denier, J.P. Stoquert and J.J. Grob

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Multiple Scattering Calculation of Absorption Spectrum and Diffraction Calculation: Application to Nanometer Scale Copper Metallic Particle p. C4-481

D. Bazin, A. Bensaddik, V. Briois and Ph. Sainctavit

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996445

Application of Multiple Scattering in Platinum Based Heterogeneous Catalysts p. C4-487

D. Bazin, A. Bensaddik, H. Dexpert and J. Lynch

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996446

Etude in situ par EXAFS de la réaction de reformage sur les systèmes Pt/Al₂O₃ et PtRe/Al₂O₃ sulfurés p. C4-493

A.Bensaddik, D. Bazin, H. Dexpert, A. Caballero, J. Lynch and B. Didillon

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996447

Etude par DRX et XPS des couches d'aluminium nitrurées par implantation ionique p. C4-501

Z. Seghrouchni, A. Mosser, J.J. Grob, N. Broll and A. Cornet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996448

Introduction au rayonnement synchrotron et à ses avantages p. C4-511

M. Bessière

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996449

Dichroïsme magnétique en photoémission de couches minces de Fe sur Pd(100) p. C4-537

X. Le Cann, K. Hricovini, B. Carrière and C. Boeglin

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Etude in situ par EXAFS de la réductibilité d'un catalyseur Fischer-Tropsch à base de cobalt supporté sur silice p. C4-545

A. Bensaddik, B. Ernst, F. Garin, G. Maire and A. Kiennemann

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Diffusion centrale des rayons X sous incidence rasante. Etude de la morphologie d'agrégats p. C4-553

D. Thiaudière and A. Naudon

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Application du rayonnement synchrotron à l'étude des transitions de phases sous haute pression des zéolites. Exemple de la scolécite p. C4-561

J.M. Malézieux, Ph. Gillet and J.P. Itié

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Etude en spectroscopie d'absorption X de catalyseurs de fluoration à base de chrome p. C4-571

I. Birken, H. Dexpert, F. Villain, J.M. Martin, M. Bertucci and E. Lacroix

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Fluorescence X : de la découverte des rayons de Rontgen aux identités de Tertian p. C4-583

N. Broll

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Qui a découvert la fluorescence X ? p. C4-599

M. Quintin

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Historique de l'analyse par fluorescence X p. C4-611

J. Despujols

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Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy for the Determination of Trace and Main Elements p. C4-619

M. Haschke

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A New Method for the Determination of S, V, Fe, Ni, Pb and Other Elements in Some Distilled Fractions of Crude Petroleum by TXRF p. C4-627

F. Pasti, A. Torboli, C. Zanetti and M. Marchi

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Amélioration du dosage de traces en fluorescence X par l'utilisation du pic net Compton p. C4-635

J.J. Gruffat

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Dosage des métaux lourds en traces par spectrométrie de fluorescence X dans les matériaux cimentiers p. C4-641

B. Germaneau, M. Signes-Frehel and F. van der Vlist

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Généralisation de l'analyse multiélémentaire par fluorescence X des filtres en fibre par la méthode de transmission (AFNOR X 43027) p. C4-651

J.P. Quisefit, J.B. Crepin and P. de Chateaubourg

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Analyse de couches minces. Rendement d'excitation p. C4-659

N. Broll, V. Dontenwill and E. Zeh

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La spectrométrie de fluorescence X et l'analyse quantitative de couches minces à l'aide d'échantillons massifs. Application au dosage des aérosols atmosphériques p. C4-667

P. de Chateaubourg

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Concentrés de sulfures : une technique simple de préparation de perles p. C4-675

F. Claisse and M. Dessureault

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Les flux du futur p. C4-683

M. Davidts

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Historique de la diffraction et de la fluorescence des rayons X p. C4-695

J.L. de Vries

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Détecteurs de rayons X à semi-conducteurs. Evolutions récentes p. C4-703

J.P. Ponpon and P. Siffert

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Low-Noise Electronics for High-Resolution CdZnTe and CdTe X-Ray Detection Systems p. C4-721

A. Niemelä

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Microscopie X analytique et diffusion des ions en solution p. C4-733

S. Rondot and J. Cazaux

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Microscopie et microtomographie X : application en biologie p. C4-739

H. Elhila, A. Zolfaghari, J. Cazaux, J.C. Audran and D. Mouze

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Sources flash X compactes à haut taux de répétition p. C4-747

A. Khacef, E. Robert, C. Cachoncinlle, R. Viladrosa and J.M. Pouvesle

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Radiographie à l'aide d'un générateur pulsé de rayons X. Filtrage équilibré pour la mesure de largeur de dose à l'aide d'une diode PIN p. C4-755

J.-Cl. Brion and E. Paraf

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Structures multicouches gravées pour le rayonnement X-UV p. C4-763

R. Barchewitz and J.-M. André

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Lignes de Kossel observées avec des multicouches périodiques Fe/C p. C4-773

J.P. Chauvineau, O. Hainaut and F. Bridou

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Applications of an Integrated XRF-XRD Spectrometer p. C4-781

R. Yellepeddi, A. Bapst and D. Bonvin

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Les rayons X et l'étude des œuvres d'art p. C4-791

J.-M. Dupouy

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La spectrométrie de fluorescence X appliquée à la connaissance des monuments historiques p. C4-809

P. Hugon, D.D. Reyer, A. Texier and J.-J. Burck

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La spectrométrie de fluorescence X pour l'analyse quantitative des végétaux et de leurs produits résiduels de combustion p. C4-823

S. Garivait, J.P. Quisefit, E. Steiner and P. de Châteaubourg

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Analyse des plantes médicinales malgaches par fluorescence X en réflexion totale p. C4-833

F. Lahatra Razafindramisa, R. Andriambololona, M. Brunel and R. van Grieken

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Séparation des métaux nobles (Pt, Au) d'une matrice géologique par chromatographie d'échange d'ions et détermination par spectrométrie de fluorescence X p. C4-843

J. Etoubleau, P. Cambon, Y. Fouquet, K. Henry and S. Moal

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Analyse de traces dans le PVDF par fluorescence X et ICP-MS avec ablation laser p. C4-853

M. Bertucci and Ph. Zydowicz

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Doser rapidement l'austénite résiduelle avec précision p. C4-863

F. Convert and B. Miege

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Apport de la diffraction de poudre à l'identification de composés minéraux dans quelques préparations pharmaceutiques p. C4-879

P. Renaud, Ch. Besselièvre and M. Broquaire

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Diffraction X en traitements thermiques : dosage de l'austénite résiduelle par diffraction des rayons X p. C4-887

M. Bach, N. Broll, A. Cornet and L. Gaide

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Utilisation du détecteur courbe multicanal INEL CPS 120 pour l'identification des phyllosilicates par diffraction des rayons X, en transmission, sur préparations orientées p. C4-897

F. Weber, Ph. Blanc, F. Pflanz and Ph. Larqué

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Utilisation du détecteur courbe CPS 120 INEL en position horizontale ou verticale. Application à l'étude des composés d'insertion graphite-lithium p. C4-907

M. Lelaurain, F.X. Henry, J.P. Roux and G. Medjahdi

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Application de la diffractométrie des rayons X à l'étude électrochimique de la corrosion de l'acier au carbone en milieu géothermal réel et traité p. C4-913

M. Amalhay and I. Ignatiadis

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Spéciation de l'oxygène dans des frittés en AIN par diffraction X et extraction gazeuse haute température avec cycle thermique p. C4-921

M. Bertucci and J.P. Disson

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Microsonde électronique et caractérisation de biofilms sur aciers p. C4-931

F. Feugeas, G. Ehret and A. Cornet

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Etude par EXAFS et fluorescence X de photocatalyseurs zéolithiques renfermant des nanoparticules de ZnO p. C4-939

L. Khouchaf, M.H. Tuilier, J. Dürr, M. Wark and H. Kessler

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Etude in situ par analyse EXAFS d'un catalyseur de reformage Pt-Sn/Al₂O₃-Cl p. C4-947

P. Bourges, F. Garin, G. Maire, G. Szabo, M. Laborde, R. Loutaty and D. Bazin

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Caractérisation par spectroscopie d'absorption X de catalyseurs de dépollution de gaz d'échappement automobile du type Pt, Rh/Al₂O₃ p. C4-957

F. Maire, D. Bazin, G. Meunier, F. Garin and G. Maire

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Etude par spectrométrie d'absorption X d'un catalyseur de dépollution automobile sous mélange gazeux simulant un gaz d'échappement p. C4-967

V. Pitchon, C. Howitt, F. Maire, P. Bernhardt, D. Bazin and G. Maire

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Le Journal de Physique IV

Volume 06 / No C4 (Juillet 1996)

Rayons X et Matiére100 ans déjà ...