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J. Phys. IV France
Volume 06, Numéro C4, Juillet 1996
Rayons X et Matiére100 ans déjà ... |
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Page(s) | C4-13 - C4-21 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1996402 |
100 ans déjà ...
J. Phys. IV France 06 (1996) C4-13-C4-21
DOI: 10.1051/jp4:1996402
La méthode de Laue refocalisée à haute énergie : une technique d'étude en volume des monocristaux
P. Bastie1 and B. Hamelin21 Laboratoire de Spectrométrie Physique, URA 08 du CNRS, Université Joseph Fourier - Grenoble 1, BP. 87, 38402 Saint-Martin-d'Hères cedex, France
2 Institut Laue Langevin, BP. 156, 38042 Grenoble cedex 9, France
Résumé
En utilisant les générateurs de rayons X haute tension (typiquement 400 kV) et les détecteurs
bidimensionnels de la radiographie industrielle. une variante de la méthode de Laue a été transposée pour les
hautes énergies. Il est ainsi possible de construire un diffractomètre de laboratoire permettant l'étude en volume
de monocristaux de plusieurs centimètres d'épaisseur, quasiment en temps réel. Les premiers résultats obtenus
montrent la sensibilité de la méthode et présentent quelques unes des utilisations possibles de cette technique.
Celle-ci ouvre des perspectives prometteuses tant du point de vue fondamental, comme par exemple pour l'étude
des transitions de phase. que du point de vue de la caractérisation et peut être même du contrôle non destructif.
Abstract
Using high voltage X-ray generators (typically 400 kV) and two dimensional detectors from the
industrial radiography, a variant of the Laue method has been transposed for high energy radiations. By this way,
a laboratory diffractometer has been built which allows us to study bulk properties of large single crystals with
thickness of several centimeters, practically in real time. The first results prove the feasibility and the sensitivity
of the method, show possible uses of this technique and open interesting opportunities for basic research such as
phase transition studies, for large single crystal bulk characterisation and also non destructive testing.
© EDP Sciences 1996