Multiple Scattering Calculation of Absorption Spectrum and Diffraction Calculation: Application to Nanometer Scale Copper Metallic Particle

Résumé
Jusqu'à présent, seule la partie EXAFS (Extended x-ray absorption fine structure) du spectre d'absorption X i.e. celle comprise entre 40.eV et 1000.eV après seuil était simulée. L'avènement de codes de calculs performants tenant compte des processus de diffusion multiple du photoelectron nous permet désormais une simulation fiable du seuil d'absorption (XANES : X-ray absorption near edge structure). Dans le domaine des agrégats métalliques nanométriques supportés, nous comparons les résultats obtenus avec deux codes de calculs FEFF6 écrit par J. RHER et CONTINUUM écrit par NATOLI et montrons la complémentarité existant entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction aux grands angles (WAXS : Wide Angle X-ray Scattering).

Abstract
XAFS spectroscopy is a very efficient tool to describe local organisation and to determine the size and the lattice of nanometric metallic particles which are major information regarding their electronic properties. Nevertheless, good accuracy is hard to obtain. In order to evaluate the sensitivity of XANES (X-ray Absorption Near Edge Structure) and WAXS (Wide Angle X-ray Scattering) techniques versus these structural parameters, different multiple scattering (M.S.) calculations using either the NATOLI's code or the REHR's code have been performed for very small metallic clusters of copper.