Issue |
J. Phys. IV France
Volume 06, Number C4, Juillet 1996
Rayons X et Matiére100 ans déjà ... |
|
---|---|---|
Page(s) | C4-695 - C4-701 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1996467 |
100 ans déjà ...
J. Phys. IV France 06 (1996) C4-695-C4-701
DOI: 10.1051/jp4:1996467
Historique de la diffraction et de la fluorescence des rayons X
J.L. de VriesPhilips Analytical X-Ray B.V., Lelyweg 1, 7602 EA Almelo, Pays-Bas
Résumé
Après la découverte des rayons X en 1895, il fallut attendre 1912 avant que l'expérience de von Laue montre la nature de ces rayons. Il s'agit d'ondes électromagnétiques de longueur d'onde d'environ 0,1 nm. La diffraction des rayons X a débuté par l'analyse des monocristaux pour résoudre la structure atomique, tout d'abord avec des chambres d'ionisation, puis avec des enregistrements photographiques. Par ailleurs, la spectroscopie était utilisée pour l'étude de la structure électronique selon la loi de Moseley. L'introduction des compteurs électroniques a permis l'analyse quantitative en difractométrie et en fluorescence. Les progrès furent ensuite très rapides, tant pour les appareils que pour les applications.
Abstract
After the discovery of X rays in 1895 it took till 1912 before the experiment by Von Laue showed these rays to be electromagnetic waves with a wave length of appr. 0.1 nm. The diffraction of X rays started with analysis of single crystals to solve their structure, first with ionization chambers, later with photographic recording. Furthermore spectroscopy was used to study the electronic structure using Moseley's law. The introduction of the electronic counters made possible the quantitative diffractometry and fluorescent spectrometry. After their introduction these methods developped very rapidly, both in instruments and applications.
© EDP Sciences 1996