Journal de Physique IV

Model of the catalytic mechanism of human aldose reductase based on quantum chemical calculations p. Pr10-3

R. Cachau, E. Howard, P. Barth, A. Mitschler, B. Chevrier, V. Lamour, A. Joachimiak, R. Sanishvili, M. Van Zandt, E. Sibley et al. (2 more)

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001001

Étude par diffraction de rayons X de la relaxation thermique et des échanges induits par les rayons ultraviolets dans les couches minces de calcogénures amorphes de Ge-As-Se p. Pr10-15

M. Popescu

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001002

Méthode de Laue refocalisée à haute énergie : intérêts et apports de la spectrométrie des faisceaux diffractés p. Pr10-21

P. Bastie, B. Hamelin and P. Courtois

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001003

Diffraction anomale et composition cationique d'une titanomagnétite nanométrique p. Pr10-27

J. Lorimier, F. Bernard, O. Isnard, J.F. Bérar and J.C. Niepce

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001004

Généralisation de l'analyse quantitative des phases par diffraction de rayons X en dispersion d'énergie p. Pr10-33

F. Convert and B. Miège

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001005

Caractérisation de solutions solides par diffraction des rayons X p. Pr10-49

S. Abbas, A. Raho and M. Kadi-Hanifi

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001006

Endommagement du carbure de bore sous irradiation neutronique : évaluation en diffraction X p. Pr10-55

D. Gosset, D. Siméone and D. Quirion

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001007

Effect of coherency of domain walls on X-ray diffraction diagrams: Case a crystal with a low tetragonality p. Pr10-65

L. Olikhovska, A. Ustinov, F. Bernard and J.C. Niepce

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001008

Structure et cinétique de mise en ordre dans des couches minces épitaxiées d'alliage AuNi : étude par thermodiffractométrie des rayons X p. Pr10-73

I. Schuster, G. Abadias, B. Gilles and A. Marty

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001009

Analyse de PZT morphotropique par diffraction X haute température : influence du procédé d'élaboration sur la dispersion chimique p. Pr10-81

C. Courtois, M. Traianidis, N. Texier, V. Lefort and A. Tardot

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001010

In-situ time-resolved X-ray diffraction experiments applied to self-sustained reactions from mechanically activated mixtures p. Pr10-89

F. Bernard, F. Charlot, Ch. Gras, V. Gauthier and E. Gaffet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001011

Détermination de contraintes résiduelles en incidence rasante. Apport du rayonnement synchrotron p. Pr10-103

O. Sicardy, I. Touet, F. Rieutord and J. Eymery

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001012

Residual stress in turbine disk materials, effect of low cycle fatigue p. Pr10-115

M. Belassel, M. Brauss and S.G. Berkley

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001013

Analyse des contraintes résiduelles dans un revêtement de cuivre réalisé par projection thermique sur des cavités supraconductrices en niobium p. Pr10-125

H. Gassot and V. Ji

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001014

Contraintes résiduelles et phases durcissantes dans les alliages superficiels aluminium – cuivre obtenus par alliation sous faisceau laser p. Pr10-137

L. Dubourg, F. Hlawka and A. Cornet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001015

Application industrielle de la diffraction sur pièces en acier inoxydable austénitique à taille de grain importante p. Pr10-145

M. Le Calvar and P. Jacob

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001016

Application de la méthodologie des plans d'expériences de Taguchi à l'analyse des relations entre paramètres d'élaboration, microstructure et contraintes résiduelles dans des dépôts électrolytiques de platine p. Pr10-155

C. Cleach, F. Badawi, J.P. Villain, P. Goudeau, C. Ramade and A. Malie

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001017

Étude des propriétés élastiques de multicouches Ni/Mo en couplant un dispositif de traction à un diffractomètre de rayons X p. Pr10-163

P. Villain, P.-O. Renault, P. Goudeau and K.F. Badawi

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001018

Détermination de l'état de contraintes résiduelles dans des couches auto-supportées de diamant-CVD par diffraction de rayons X p. Pr10-171

O. Durand, J. Olivier, R. Bisaro, P. Galtier and J.K. Krüger

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001019

Détermination par diffraction des rayons X de la texture et des contraintes dans des revêtements de chrome dopé au carbone réalisés par pulvérisation cathodique magnétron p. Pr10-185

C. Gautier-Picard, J.L. Lebrun, M. Frainais and D. Girard

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001020

Analyse radiocristallographique de la répartition de textures en fonction de l'épaisseur de la tôle dans du fer "armco" laminé à froid p. Pr10-193

A. Kämpfe, B. Chassagnard, B. Eigenmann, O. Vöhringer and D. Löhe

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001021

Relationships between thermoelectric power (TEP) values and crystallographic texture of zircaloy-4 plates p. Pr10-203

J.L. Béchade, J.C. Brachet, J. Pelé and T. Guilbert

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001022

X-ray characterisation of size, strain and texture inhomogeneities in ultra fine grained copper processed by equal channel angular extrusion p. Pr10-211

A. Tidu, F. Wagner, W.H. Huang, P.W. Kao, C.P. Chang and T. Grosdidier

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001023

Réflectivité non spéculaire d'une multicouche silicium-molybdène par la méthode de dispersion d'énergie des rayons X (5 – 20 keV) p. Pr10-221

J.C. Malaurent and H. Duval

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001024

Étude comparative des paramètres fractals des surfaces par réflectométrie des rayons X et microscopie à force atomique p. Pr10-229

A. Knoll, J.C. Arnault, E. Smigiel, N. Broll and A. Cornet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001025

Modèles direct et inverse de la réflectométrie non spéculaire par transformée en cosinus discrète p. Pr10-237

E. Smigiel, A. Knoll, N. Broll and A. Cornet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001026

Caractérisation du mode de durcissement structural des couches implantées à haute énergie par les techniques de nanoindentation et de diffraction des rayons X en incidence rasante p. Pr10-245

H. Pelletier, M. Bach, J.J. Grob and P. Mille

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001027

Réflectométrie et diffusion centrale de rayons X sur couches minces élaborée par voie sol-gel p. Pr10-255

P. Lenormand, A. Lecomte, A. Dauger, C. Mary and R. Guinebretière

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001028

Protocole expérimental d'analyse de la surface des aérosols atmosphériques – exemple des particules émises par la combustion automobile p. Pr10-265

V. Lafon, A. Brown, J.F. Watts and J.P. Quisefit

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001029

Caractérisation structurale par XRD et RHEED de couches minces épitaxiées de GaN déposées sur Al₂O₃(0001) par ablation laser réactive p. Pr10-275

D. Ohlmann, J.L. Deiss, J.L. Loison, M. Robino and G. Versini

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001030

Effets d'un chauffage thermique sur les performances de miroirs multicouches Mo/Si, Mo/C et Ni/C pour le rayonnement X mou p. Pr10-281

T. Djavanbakht, V. Carrier, J.-M. Andre, R. Barchewitz and P. Troussel

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001031

Aspects complémentaires entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale dans le cas d'entités de taille nanométrique supportées sur un oxyde léger p. Pr10-289

R. Revel, D. Bazin, M. Gailhanou, S. Lefevre, Y. Kihn and D. Massiot

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001032

Analyse par EXAFS d'agrégats de platine de taille nanométrique soumis à différents gaz réactifs p. Pr10-299

S. Schneider, D. Bazin, G. Meunier, F. Garin and G. Maire

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001033

Caractérisation par émission et diffraction des rayons X des couches d'oxydes formées par corrosion-érosion des aciers dans les circuits secondaires des centrales REP p. Pr10-313

F. Vermorel, M. Romand, M. Charbonnier and M. Bouchacourt

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001034

Caractérisation de céramiques archéologiques andines par fluorescence de rayons X p. Pr10-323

I.C. Druc and R. Zamojska

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001035

Évaluation des domaines d'épaisseur de films minces mesurables par fluorescence X en excitation monochromatique p. Pr10-333

N. Broll, E. Zeh and M. Bach

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001036

In situ investigation of ices and hydrous minerals at the lunar poles using a combined X-ray fluorescence and diffraction instrument p. Pr10-343

P. Sarrazin, D. Blake, D. Bish, D. Vaniman, S. Chipera, S.A. Collins and S.T. Elliott

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001037

Solidification de déchets ultimes et comportement à la lixiviation. Apport des techniques X p. Pr10-353

P. Fourcy, E. Garcia-Diaz, J. Durr, L. Khouchaf, J. Blondin and J.M. Siwak

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001038

Apport des techniques par rayons X à la caractérisation des encroûtements cobaltifères océaniques p. Pr10-363

J. Etoubleau, M. Bohn, Y. Fouquet, P. Cambon and R. Le Suavé

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001039

Diffraction des rayons X sur couches minces polycristallines ou épitaxiées. Utilisation d'un montage en réflexion asymétrique équipé d'un détecteur courbe à localisation p. Pr10-377

C. Mary, P. Lenormand, R. Guinebretière, A. Lecomte and A. Dauger

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001040

Analyse de courbes de réflectivité des rayons X sous incidence rasante par transformée en ondelettes p. Pr10-387

E. Smigiel, A. Knoll, N. Broll and A. Cornet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001041

Rayonnement de transition X-UV émis à partir d'un empilement périodique p. Pr10-395

B. Pardo, J.-M. André and C. Bonnelle

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001042

De l'image brute à l'intensité absolue : calibration d'une caméra Guinier-Méring à collimation linéaire p. Pr10-403

F. Né, I. Grillo, O. Taché and T. Zemb

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001043

XRD, XPS and XANES characterizations of tungsten oxide supported on α-alumina catalysts p. Pr10-415

V. Logie, G. Maire, R. Revel and D. Bazin

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001044

X ray diffraction investigation of Pu-Ce and Pu-Ce-Ga alloys stabilized in the δ-phase p. Pr10-425

M. Dormeval, C. Valot and N. Baclet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001045

Tomographie par diffusion Rayleigh et Compton avec reconstruction numérique de l'image p. Pr10-435

P. Duvauchelle, G. Peix, N. Freud and D. Babot

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001046

Développement d'une cellule pour des études EXAFS in situ de pots catalytiques de voiture p. Pr10-449

S. Schneider, D. Bazin, J.M. Dubuisson, M. Ribbens, H. Sonneville, G. Meunier, F. Garin and G. Maire

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001047

Application de la réflectométrie des rayons X à l'étude de l'oxydation des métaux à haute température p. Pr10-455

A. Knoll, E. Smigiel, N. Broll and A. Cornet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001048

Les formulations cosmétiques de l'Egypte ancienne retrouvées grâce à la diffraction des rayons X p. Pr10-465

P. Martinetto, M. Anne, E. Dooryhée, G. Tsoucaris and Ph. Walter

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001049

Étude diffractométrique de l'évolution des phases au cours du durcissement d'un ciment Portland p. Pr10-473

I. Robu, R. Jauberthie, Y. Melinge and Ch. Lanos

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001050

Studies of the dehydroxylated-rehydroxylated montmorillonite : Structure of the layers and intercalation of water molecules p. Pr10-481

F. Muller, A. Plançon and V.A. Drits

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001051

Caractérisation des concrétionnements carbonatés dans les rivières des bassins calcaires p. Pr10-489

A. Jigorel, F. Pitois and R. Jauberthie

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001052

Application of X-ray diffraction to thermal analysis p. Pr10-497

W. Engel, H. Fietzek, M. Herrmann and V. Kolarik

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001053

Étude des mécanismes d'oxydation de couches minces ultra-dures par thermodiffractométrie X et ATG p. Pr10-505

R.Y. Fillit, D. Goeuriot and C. Héau

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001054

Étude d'un granulat alcali-réactif par diffraction des rayons X p. Pr10-513

D. Bulteel, E. Garcia-Diaz, J. Durr, L. Khouchaf, C. Vernet and J.M. Siwak

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001055

Utilisation des rayons X pour l'étude de la biodégradation des matériaux p. Pr10-521

F. Feugeas, G. Ehret and A. Cornet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001056

Caractérisations physico-chimiques d'une olivine naturelle et son usage en catalyse industrielle p. Pr10-531

C. Courson, C. Petit and A. Kiennemann

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001057

Intérêt de l'étude par diffraction des rayons X et microscopie électronique à transmission d'un catalyseur composite à base de fer et de cobalt p. Pr10-541

F. Tihay, G. Pourroy, A.C. Roger, M. Richard-Plouet and A. Kiennemann

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001058

La microscopie électronique à balayage environnementale équipée en micro-analyse X : son utilisation en pathologie osseuse humaine. Perspectives et limites p. Pr10-551

L. Khouchaf, J. Blondiaux, V. Hedouin, D. Gosset, J. Dürr and R.-M. Flipo

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001059

Le Journal de Physique IV

Volume 10 / No PR10 (September 2000)

Rayons X et Matière