Model of the catalytic mechanism of human aldose reductase based on quantum chemical calculations p. Pr10-3 R. Cachau, E. Howard, P. Barth, A. Mitschler, B. Chevrier, V. Lamour, A. Joachimiak, R. Sanishvili, M. Van Zandt, E. Sibley et al. (2 more) DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001001 PDF (484.5 KB)
Étude par diffraction de rayons X de la relaxation thermique et des échanges induits par les rayons ultraviolets dans les couches minces de calcogénures amorphes de Ge-As-Se p. Pr10-15 M. Popescu DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001002 PDF (263.1 KB)
Méthode de Laue refocalisée à haute énergie : intérêts et apports de la spectrométrie des faisceaux diffractés p. Pr10-21 P. Bastie, B. Hamelin and P. Courtois DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001003 PDF (340.6 KB)
Diffraction anomale et composition cationique d'une titanomagnétite nanométrique p. Pr10-27 J. Lorimier, F. Bernard, O. Isnard, J.F. Bérar and J.C. Niepce DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001004 PDF (235.9 KB)
Généralisation de l'analyse quantitative des phases par diffraction de rayons X en dispersion d'énergie p. Pr10-33 F. Convert and B. Miège DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001005 PDF (775.5 KB)
Caractérisation de solutions solides par diffraction des rayons X p. Pr10-49 S. Abbas, A. Raho and M. Kadi-Hanifi DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001006 PDF (205.0 KB)
Endommagement du carbure de bore sous irradiation neutronique : évaluation en diffraction X p. Pr10-55 D. Gosset, D. Siméone and D. Quirion DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001007 PDF (1.250 MB)
Effect of coherency of domain walls on X-ray diffraction diagrams: Case a crystal with a low tetragonality p. Pr10-65 L. Olikhovska, A. Ustinov, F. Bernard and J.C. Niepce DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001008 PDF (413.8 KB)
Structure et cinétique de mise en ordre dans des couches minces épitaxiées d'alliage AuNi : étude par thermodiffractométrie des rayons X p. Pr10-73 I. Schuster, G. Abadias, B. Gilles and A. Marty DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001009 PDF (475.2 KB)
Analyse de PZT morphotropique par diffraction X haute température : influence du procédé d'élaboration sur la dispersion chimique p. Pr10-81 C. Courtois, M. Traianidis, N. Texier, V. Lefort and A. Tardot DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001010 PDF (367.5 KB)
In-situ time-resolved X-ray diffraction experiments applied to self-sustained reactions from mechanically activated mixtures p. Pr10-89 F. Bernard, F. Charlot, Ch. Gras, V. Gauthier and E. Gaffet DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001011 PDF (1.586 MB)
Détermination de contraintes résiduelles en incidence rasante. Apport du rayonnement synchrotron p. Pr10-103 O. Sicardy, I. Touet, F. Rieutord and J. Eymery DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001012 PDF (1.196 MB)
Residual stress in turbine disk materials, effect of low cycle fatigue p. Pr10-115 M. Belassel, M. Brauss and S.G. Berkley DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001013 PDF (1.084 MB)
Analyse des contraintes résiduelles dans un revêtement de cuivre réalisé par projection thermique sur des cavités supraconductrices en niobium p. Pr10-125 H. Gassot and V. Ji DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001014 PDF (1.657 MB)
Contraintes résiduelles et phases durcissantes dans les alliages superficiels aluminium – cuivre obtenus par alliation sous faisceau laser p. Pr10-137 L. Dubourg, F. Hlawka and A. Cornet DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001015 PDF (1.534 MB)
Application industrielle de la diffraction sur pièces en acier inoxydable austénitique à taille de grain importante p. Pr10-145 M. Le Calvar and P. Jacob DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001016 PDF (329.2 KB)
Application de la méthodologie des plans d'expériences de Taguchi à l'analyse des relations entre paramètres d'élaboration, microstructure et contraintes résiduelles dans des dépôts électrolytiques de platine p. Pr10-155 C. Cleach, F. Badawi, J.P. Villain, P. Goudeau, C. Ramade and A. Malie DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001017 PDF (467.8 KB)
Étude des propriétés élastiques de multicouches Ni/Mo en couplant un dispositif de traction à un diffractomètre de rayons X p. Pr10-163 P. Villain, P.-O. Renault, P. Goudeau and K.F. Badawi DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001018 PDF (400.8 KB)
Détermination de l'état de contraintes résiduelles dans des couches auto-supportées de diamant-CVD par diffraction de rayons X p. Pr10-171 O. Durand, J. Olivier, R. Bisaro, P. Galtier and J.K. Krüger DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001019 PDF (1.089 MB)
Détermination par diffraction des rayons X de la texture et des contraintes dans des revêtements de chrome dopé au carbone réalisés par pulvérisation cathodique magnétron p. Pr10-185 C. Gautier-Picard, J.L. Lebrun, M. Frainais and D. Girard DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001020 PDF (838.3 KB)
Analyse radiocristallographique de la répartition de textures en fonction de l'épaisseur de la tôle dans du fer "armco" laminé à froid p. Pr10-193 A. Kämpfe, B. Chassagnard, B. Eigenmann, O. Vöhringer and D. Löhe DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001021 PDF (2.103 MB)
Relationships between thermoelectric power (TEP) values and crystallographic texture of zircaloy-4 plates p. Pr10-203 J.L. Béchade, J.C. Brachet, J. Pelé and T. Guilbert DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001022 PDF (290.1 KB)
X-ray characterisation of size, strain and texture inhomogeneities in ultra fine grained copper processed by equal channel angular extrusion p. Pr10-211 A. Tidu, F. Wagner, W.H. Huang, P.W. Kao, C.P. Chang and T. Grosdidier DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001023 PDF (261.5 KB)
Réflectivité non spéculaire d'une multicouche silicium-molybdène par la méthode de dispersion d'énergie des rayons X (5 – 20 keV) p. Pr10-221 J.C. Malaurent and H. Duval DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001024 PDF (884.9 KB)
Étude comparative des paramètres fractals des surfaces par réflectométrie des rayons X et microscopie à force atomique p. Pr10-229 A. Knoll, J.C. Arnault, E. Smigiel, N. Broll and A. Cornet DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001025 PDF (612.3 KB)
Modèles direct et inverse de la réflectométrie non spéculaire par transformée en cosinus discrète p. Pr10-237 E. Smigiel, A. Knoll, N. Broll and A. Cornet DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001026 PDF (296.5 KB)
Caractérisation du mode de durcissement structural des couches implantées à haute énergie par les techniques de nanoindentation et de diffraction des rayons X en incidence rasante p. Pr10-245 H. Pelletier, M. Bach, J.J. Grob and P. Mille DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001027 PDF (451.2 KB)
Réflectométrie et diffusion centrale de rayons X sur couches minces élaborée par voie sol-gel p. Pr10-255 P. Lenormand, A. Lecomte, A. Dauger, C. Mary and R. Guinebretière DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001028 PDF (520.4 KB)
Protocole expérimental d'analyse de la surface des aérosols atmosphériques – exemple des particules émises par la combustion automobile p. Pr10-265 V. Lafon, A. Brown, J.F. Watts and J.P. Quisefit DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001029 PDF (1.464 MB)
Caractérisation structurale par XRD et RHEED de couches minces épitaxiées de GaN déposées sur Al2O3(0001) par ablation laser réactive p. Pr10-275 D. Ohlmann, J.L. Deiss, J.L. Loison, M. Robino and G. Versini DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001030 PDF (1.904 MB)
Effets d'un chauffage thermique sur les performances de miroirs multicouches Mo/Si, Mo/C et Ni/C pour le rayonnement X mou p. Pr10-281 T. Djavanbakht, V. Carrier, J.-M. Andre, R. Barchewitz and P. Troussel DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001031 PDF (2.242 MB)
Aspects complémentaires entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale dans le cas d'entités de taille nanométrique supportées sur un oxyde léger p. Pr10-289 R. Revel, D. Bazin, M. Gailhanou, S. Lefevre, Y. Kihn and D. Massiot DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001032 PDF (3.083 MB)
Analyse par EXAFS d'agrégats de platine de taille nanométrique soumis à différents gaz réactifs p. Pr10-299 S. Schneider, D. Bazin, G. Meunier, F. Garin and G. Maire DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001033 PDF (4.651 MB)
Caractérisation par émission et diffraction des rayons X des couches d'oxydes formées par corrosion-érosion des aciers dans les circuits secondaires des centrales REP p. Pr10-313 F. Vermorel, M. Romand, M. Charbonnier and M. Bouchacourt DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001034 PDF (4.375 MB)
Caractérisation de céramiques archéologiques andines par fluorescence de rayons X p. Pr10-323 I.C. Druc and R. Zamojska DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001035 PDF (1.962 MB)
Évaluation des domaines d'épaisseur de films minces mesurables par fluorescence X en excitation monochromatique p. Pr10-333 N. Broll, E. Zeh and M. Bach DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001036 PDF (267.1 KB)
In situ investigation of ices and hydrous minerals at the lunar poles using a combined X-ray fluorescence and diffraction instrument p. Pr10-343 P. Sarrazin, D. Blake, D. Bish, D. Vaniman, S. Chipera, S.A. Collins and S.T. Elliott DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001037 PDF (1.802 MB)
Solidification de déchets ultimes et comportement à la lixiviation. Apport des techniques X p. Pr10-353 P. Fourcy, E. Garcia-Diaz, J. Durr, L. Khouchaf, J. Blondin and J.M. Siwak DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001038 PDF (411.1 KB)
Apport des techniques par rayons X à la caractérisation des encroûtements cobaltifères océaniques p. Pr10-363 J. Etoubleau, M. Bohn, Y. Fouquet, P. Cambon and R. Le Suavé DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001039 PDF (1.107 MB)
Diffraction des rayons X sur couches minces polycristallines ou épitaxiées. Utilisation d'un montage en réflexion asymétrique équipé d'un détecteur courbe à localisation p. Pr10-377 C. Mary, P. Lenormand, R. Guinebretière, A. Lecomte and A. Dauger DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001040 PDF (586.9 KB)
Analyse de courbes de réflectivité des rayons X sous incidence rasante par transformée en ondelettes p. Pr10-387 E. Smigiel, A. Knoll, N. Broll and A. Cornet DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001041 PDF (310.2 KB)
Rayonnement de transition X-UV émis à partir d'un empilement périodique p. Pr10-395 B. Pardo, J.-M. André and C. Bonnelle DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001042 PDF (290.2 KB)
De l'image brute à l'intensité absolue : calibration d'une caméra Guinier-Méring à collimation linéaire p. Pr10-403 F. Né, I. Grillo, O. Taché and T. Zemb DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001043 PDF (544.9 KB)
XRD, XPS and XANES characterizations of tungsten oxide supported on α-alumina catalysts p. Pr10-415 V. Logie, G. Maire, R. Revel and D. Bazin DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001044 PDF (469.0 KB)
X ray diffraction investigation of Pu-Ce and Pu-Ce-Ga alloys stabilized in the δ-phase p. Pr10-425 M. Dormeval, C. Valot and N. Baclet DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001045 PDF (483.3 KB)
Tomographie par diffusion Rayleigh et Compton avec reconstruction numérique de l'image p. Pr10-435 P. Duvauchelle, G. Peix, N. Freud and D. Babot DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001046 PDF (1.225 MB)
Développement d'une cellule pour des études EXAFS in situ de pots catalytiques de voiture p. Pr10-449 S. Schneider, D. Bazin, J.M. Dubuisson, M. Ribbens, H. Sonneville, G. Meunier, F. Garin and G. Maire DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001047 PDF (711.9 KB)
Application de la réflectométrie des rayons X à l'étude de l'oxydation des métaux à haute température p. Pr10-455 A. Knoll, E. Smigiel, N. Broll and A. Cornet DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001048 PDF (673.0 KB)
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Étude diffractométrique de l'évolution des phases au cours du durcissement d'un ciment Portland p. Pr10-473 I. Robu, R. Jauberthie, Y. Melinge and Ch. Lanos DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001050 PDF (542.7 KB)
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Caractérisation des concrétionnements carbonatés dans les rivières des bassins calcaires p. Pr10-489 A. Jigorel, F. Pitois and R. Jauberthie DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001052 PDF (726.7 KB)
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Intérêt de l'étude par diffraction des rayons X et microscopie électronique à transmission d'un catalyseur composite à base de fer et de cobalt p. Pr10-541 F. Tihay, G. Pourroy, A.C. Roger, M. Richard-Plouet and A. Kiennemann DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001058 PDF (1.507 MB)
La microscopie électronique à balayage environnementale équipée en micro-analyse X : son utilisation en pathologie osseuse humaine. Perspectives et limites p. Pr10-551 L. Khouchaf, J. Blondiaux, V. Hedouin, D. Gosset, J. Dürr and R.-M. Flipo DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001059 PDF (2.086 MB)
