Étude par diffraction de rayons X de la relaxation thermique et des échanges induits par les rayons ultraviolets dans les couches minces de calcogénures amorphes de Ge-As-Se

M. Popescu

doi:doi:10.1051/jp4:20001002

Numéro		J. Phys. IV France Volume 10, Numéro PR10, September 2000 Rayons X et Matière


Page(s)		Pr10-15 - Pr10-20
DOI		https://doi.org/10.1051/jp4:20001002

Rayons X et Matière

J. Phys. IV France 10 (2000) Pr10-15-Pr10-20
DOI: 10.1051/jp4:20001002

Étude par diffraction de rayons X de la relaxation thermique et des échanges induits par les rayons ultraviolets dans les couches minces de calcogénures amorphes de Ge-As-Se

M. Popescu

Institut National pour la Physique des Matériaux, Bucharest-Magurele, BP. Mg. 7, Roumanie

Résumé
La relaxation thermique et la relaxation induite par les rayons ultraviolets dans les couches minces amorphes de composition Ge_xAs_40-xSe₆₀ (0≤x≤40) ont été étudiées par diffraction de rayons X. Les résultats structuraux obtenus ont permis de dresser les modèles de transformation à l'échelle atomique.

Abstract
Thermal relaxation and the relaxation induced by UV radiation in thin amorphous films of composition Ge_xAs_40-xSe₆₀ (0≤x≤40) have been investigated by diffraction de rayons X. The structural results allowed to suggest the models for the atomic scale transformations.