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J. Phys. IV France
Volume 10, Number PR10, September 2000
Rayons X et Matière
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Page(s) | Pr10-155 - Pr10-162 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:20001017 |
J. Phys. IV France 10 (2000) Pr10-155-Pr10-162
DOI: 10.1051/jp4:20001017
Application de la méthodologie des plans d'expériences de Taguchi à l'analyse des relations entre paramètres d'élaboration, microstructure et contraintes résiduelles dans des dépôts électrolytiques de platine
C. Cleach1, F. Badawi2, J.P. Villain2, P. Goudeau2, C. Ramade1 and A. Malie11 Snecma Services, ZI Nord, rue Maryse Bastié, BP. 129, 86101 Châtellerault cedex, France
2 Laboratoire de Métallurgie Physique LMP, UMR 6630 du CNRS, Université de Poitiers, UFR Sciences SP2MI, Téléport 2, boulevard Marie et Pierre Curie, BP. 30179, 86962 Futuroscope-Chasseneuil cedex, France
Résumé
Nous avons caractérisé par diffraction des rayons X les états mécaniques et structuraux des dépôts électrolytiques de platine en fonction de nombreux paramètres tels que la nature et l'état de surface du substrat, la densité de courant, la concentration en platine, le pH et l'agitation de l'électrolyte. L'étude systématique de l'influence de ces facteurs impliquerait un nombre prohibitif d'expériences combinatoires alors que l'application de la méthodologie des plans d'expériences de Taguchi permet une détermination du rôle de chaque facteur et des conditions optimales d'élaboration des dépôts à travers un nombre relativement restreint d'expériences.
Abstract
The mechanical and structural states of platinum electrolytic deposits were characterized by means of X ray diffraction as a function of many parameters like nature and surface state of the substrate, current density, platinum concentration, pH and agitation of the electrolyte. The systematic study of the factors influence would imply a prohibitive number of combinatory experiments, whereas the methodology of Taguchi experiment plans allows a definition of each factor role and of optimal conditions for deposits elaboration with a very low number of experiments
© EDP Sciences 2000