Méthode de Laue refocalisée à haute énergie : intérêts et apports de la spectrométrie des faisceaux diffractés

Résumé
L'appareillage dédié à la mise en oeuvre de la méthode de Laue refocalisée à haute énergie, installé à l'Institut Laue Langevin, a été équipé d'un système de détection permettant l'analyse en énergie des faisceaux diffractés. Après une rapide description du dispositif, de ses caractéristiques et de sa résolution, nous montrerons l'intérêt de cette mesure pour, par exemple, aider à l'indexation des diagrammes de Laue, séparer les ordres de diffraction successifs, accéder aux raies de surstructure et déterminer les variations des paramètres de maille. Des résultats obtenus sur différents matériaux illustreront les nouveaux champs d'application ouverts par l'analyse en énergie.

Abstract
A detection set-up allowing the energy analysis of the diffracted beam has been implemented on the hard X ray apparatus installed at the Institut Laue Langevin. First a short description of the set-up, of its characteristics and of its resolution will be given. Then, examples of improvements, related to the energy analysis, for Laue diagramm indexation, for successive diffraction order separation, for superstucture reflection studies and lattice parameter measurements will be shown. New investigation fields opened by the energy analysis of the diffracted beam will be illustrated by examples taken from several materials.