Rayons X et Matière

J. Phys. IV France 10 (2000) Pr10-289-Pr10-297
DOI: 10.1051/jp4:20001032

Aspects complémentaires entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale dans le cas d'entités de taille nanométrique supportées sur un oxyde léger

R. Revel^{1, 2}, D. Bazin¹, M. Gailhanou¹, S. Lefevre¹, Y. Kihn³ and D. Massiot<sup>4

1</sup>  LURE, bâtiment 209D, Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France
²  Institut Français du Pétrole, 1 et 4 avenue de Bois-Préau, 92852 Rueil-Malmaison cedex, France
³  CEMES-CNRS, BP. 4347, 31055 Toulouse, France
⁴  Centre de Recherche sur les Matériaux à Haute Température, CNRS, 1D avenue de la Recherche Scientifique, 45071 Orléans cedex 2, France

Résumé
La complémentarité entre deux techniques spécifiques au rayonnement synchrotron, la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale est illustrée au travers l'étude d'entités de taille nanométrique déposées sur un oxyde léger. Pour les oxydes divisés, cette démarche permet une mesure précise de l'état électronique du zinc, du taux d'occupation des sites tétraédriques ainsi que de la taille du cristallite de l'oxyde étudié.

Abstract
The complementarity of two techniques related to synchrotron radiation, the X-ray absorption spectroscopy and the anomalous diffraction is shown through the study of a complex material which can be used for different purposes (ionic conductivity, catalysis ...) is developped. For nanometric supported oxide clusters, such approach is able to give an accurate structural description including a precise measure of the occupation octahedral site by cations as well as the size of the nanometer scale cristallite.

© EDP Sciences 2000