Journal de Physique IV

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Foreword

Préface p. V

Alain Cornet

Protein crystallization: Contribution of small angle X-ray scattering (SAXS) p. 3

F. Bonneté, N. Ferté, J.P. Astier and S. Veesler

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118001

Analyses d'épaisseurs de couches monophasées par diffraction X en dispersion d'énergie - application à la nitruration p. 15

F. Convert

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118002

Lattice distortion and basal slip bands in deformed ice crystals revealed by hard X-ray diffraction p. 27

B. Hamelin, P. Bastie, P. Duval, J. Chevy and M. Montagnat

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118003

X-ray orientation determination of single crystals by means of the Ω-Scan Method p. 37

H. Berger

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118004

Synthesis and characterisation of a new hydrated bismuth (III) oxalate : Bi₂(C₂O₄)₃,6H₂O p. 43

L. Tortet, O. Monnereau, P. Roussel and P. Conflant

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118005

Small-angle x-ray scattering with the new NanoSTAR-U principles & applications p. 53

R. Görgl and G. Maier

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118006

Étude des déplacements induits par des précipités dans des alliages à base de cuivre p. 63

I. Guillon, C. Servant and O. Lyon

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118007

Étude structurale de nanomatériaux par diffraction X : utilisation d'un montage avec optique multicouche à collimation 2D p. 71

L. Ortega, C. Bouchard, R. Bruyère and P. Bordet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118008

Cristallisation dans les verres de silicates contenant du molybdène et du phosphore p. 79

C. Cousi, F. Bart and J. Phalippou

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118009

Étude des modifications structurales de l'eau confinée dans le gel de silice p. 85

A. Fouzri, R. Dorbez-Sridi and M. Oumezzine

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118010

Modeling of the amorphous diamond-like carbon p. 93

M. Popescu, F. Sava and H. Bradaczek

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118011

Expression de l'incertitude lors de la mesure de contraintes résiduelles par diffraction p. 99

M. François, C. Ferreira and R. Guillén

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118012

Simulation et détermination par rayons X des contraintes dans des micro-composants modèles p. 109

A. Loubens, R.Y. Fillit, R. Fortunier and O. Thomas

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118013

Étude structurale par rayonnement synchrotron de superréseaux d'oxydes pérovskites p. 119

M. Nemoz, E. Dooryhee, J.-L. Hodeau and C. Dubourdieu

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118014

Contribution of the synchrotron diffraction study of the oxidation of uranium dioxide at 250C p. 127

G. Rousseau, L. Desgranges, J.C. Nièpce, G. Baldinozzi and J.F. Bérar

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118015

Analyse de l'intensité de fluorescence émise par une multicouche périodique sous rayonnement synchrotron. Application à l'étude de la répartition spatiale des éléments dans l'empilement p. 137

F. Bridou, G. Cauchon and M. Idir

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118016

Applications en pétrochimie, d'un spectromètre de fluorescence de rayons X d'entrée de gamme, dispersif en longueur d'onde (WDXRF) p. 143

C.P. Lienemann, E. Roche, R. Yellepeddi, D. Bonvin and G. Matula

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118017

Réflexion et fluorescence X : une complémentarité au profit de la caractérisation des surfaces p. 149

C. Zerrouki, M. Chassevent, N. Fourati, E. Tollens and J. J. Bonnet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118018

Influence d'une substitution partielle du ciment par du laitier de hauts fourneaux sur la résistance des mortiers en milieu acide p. 159

D. Achoura, Ch. Lanos, R. Jauberthie and B. Redjel

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118019

Sodium doped lanthanum manganites thin films: Influence of the oxygen content on the structural parameters p. 165

I. Alessandri, E. Bontempi, L. Sangaletti, S. Pagliara, L. Malavasi, F. Parmigiani, G. Flor and L. E. Depero

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118020

MONOX: un nouveau spectrogoniomètre pour le rayonnement X mou et X-UV p. 173

J.-M. André, A. Avila, R. Barchewitz, R. Benbalagh, R. Delaunay, D. Druart, M.-F. Fontaine and H. Ringuenet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118021

Étude de la microstructure de couches minces par diffraction des rayons X : description analytique des profils de raie p. 183

A. Boulle, R. Guinebretière and A. Dauger

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118022

Caractérisation par spectrométrie photoélectronique (XPS) et spectrométrie d'émission X (XRFS et LEEIXS) de films minces de Ni ou Cu electroless déposés sur substrats polymères p. 193

M. Charbonnier, D. Leonard, Y. Goepfert and M. Romand

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118023

High-resolution X-ray diffractometry and X-ray reflectometry techniques for structural studies of complicated thin-layered heterostructures: Complementarity between Fourier Transform-based procedures and simulation softwares p. 203

O.Durand, A. De Rossi and A. Bouchier

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118024

Analysis of AuPd thin coatings on lead frames p. 213

M. Haschke and J-C. Lecomte

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118025

Étude, par réflectométrie X, de la structure de monocouches d'acide arachidique déposées à la surface du mercure liquide p. 221

B. Harzallah and R. Cortès

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118026

Étude d'un empilement multicouche périodique Mo/Si par spectroscopie d'émission X et par réflectométrie X p. 231

P. Jonnard, J.-M. André, J. Gautier, M. Roulliay, F. Bridou, F. Delmotte and M.-F. Ravet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118027

Electron scattering by gas in the Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM): Effects on the image quality and on the X-ray microanalysis p. 237

L. Khouchaf and J. Verstraete

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118028

Analyses par diffraction de rayons X sur des revêtements barrières thermiques réalisés par un procédé hybride plasma-laser p. 247

G. Antou, F. Hlawka, G. Montavon, M. Bach, A. Cornet and C. Coddet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118029

La diffraction des rayons X durs : un nouvel outil pour les géosciences. Application aux quartz naturels p. 259

P. Bastie, G. Dolino, B. Hamelin and N. Meisser

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118030

Comportement de la xonotlite exposée aux hautes températures p. 267

C. Baux, C. Daiguebonne, C. Lanos, O. Guillou, R. Jauberthie and Y. Gérault

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118031

Étude de la contribution de la diffusion simple et multiple à l'amplitude des atomes voisins du silicium dans SiO₂ : application à un granulat soumis à la réaction alcali-silice p. 277

F. Boinski, L. Khouchaf, J. Verstraete and M.H. Tuilier

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118032

Étude par diffraction X de l'oxydation à 500C de poudres quasicristallines AlCuFe p. 283

G. Bonhomme, P. Weisbecker, G. Bott and J.M. Dubois

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118033

X-ray characterisation of bulk stones from the patina to the depth stone p. 295

B. Brunet-Imbault, I. Rannou and F. Muller

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118034

Influence de l'environnement sur la tenue des ciments alumineux p. 301

P. Coatanlem and R. Jauberthie

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118035

In situ X-ray diffraction contribution to the study of reactive element oxide coating effect on the high temperature oxidation behaviour of FeCrAl alloys p. 307

R. Cueff, H. Buscail, E. Caudron, F. Riffard, C. Issartel, S. Perrier and S. El Messki

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118036

Étude de l'effet du magnésium sur l'oxydation à haute température (1100C-1200C) d'un alliage FeCrAl avec misch-métal p. 315

S. El messki, H. Buscail, E. Caudron, R. Cueff, F. Riffard, C. Issartel and S. Perrier

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118037

Effets du titane et du niobium sur l'oxydation à 950C d'aciers ferritiques p. 323

C. Issartel, H. Buscail, E. Caudron, R. Cueff, F. Riffard, S. El Messki, N. Karimi and L. Antoni

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118038

X-ray scattering evidence of a new short range order or correlation in the high Tc superconductor Bi₂Sr₂CaCu₂O p. 333

S. Megtert, J. Avila, M. Izquierdo, P.A. Albouy, G. Gu, M.C. Asensio and R. Comes

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118039

X-ray diffraction and microscopy investigations of structural inhomogeneities in NiMnSb crystallised from the melt p. 343

O. Monnereau, F. Guinneton, L.Tortet, A.Garnier, R. Notonier, M. Cernea, S.A Manea and C. Grigorescu

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118040

Diffraction de rayons X sur les plaquettes de fer durcies par cyanuration p. 351

M. Popescu, W. Hoyer, M. Stegarescu, A. Cornet and N. Broll

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118041

Characterisation and understanding of TRIP steels p. 355

A. Poulon-Quintin, J.B. Vogt, V. Shivanyuk and J. Foct

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118042

Application de la diffraction des rayons X in situ à haute température pour l'identification d'une nouvelle phase lors de l'oxydation à 900C de l'acier 304 p. 369

F. Riffard, H. Buscail, E. Caudron, R. Cueff, C. Issartel, S. El Messki and S. Perrier

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118043

La diffraction des rayons X au service de la conservation des bois archéologiques gorgés d'eau p. 377

I. Schuster, J. Pécaut and K. Tran

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118044

D'une olivine naturelle à un catalyseur industriel au nickel pour la production d'hydrogène à partir de biomasse p. 385

D. Świerczyński, C. Courson, J. Guille and A. Kiennemann

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118045

Diffusion des rayonnements X et visibles ; microscopie en champ proche : utilisation comparée pour la caractérisation des surfaces p. 395

E. Tollens, S. Menecier, Y. Haidar, C. Zerrouki, M. Chassevent, F. de Fornel and J.J. Bonnet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118046

Étude de la variation du paramètre de réseau de solutions solides Cu-Ni par diffraction des rayons X p. 409

B. Allili, A. Raho and M. Kadi-Hanifi

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118047

Investigation of I.C. samples using X-ray computer tomography p. 413

S. Bord, A. Clement, J.C. Lecomte and J.C. Marmeggi

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118048

Étude structurale des composés YCo NiB par diffraction anomale des rayons X p. 419

C. Chacon, O.Isnard and J.-F. Bérar

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118049

Radiographie par rayons X à haute résolution de défauts topologiques en volume de structures modulées comparée aux neutrons en faisceau blanc p. 431

J. Fernandez Palacio, B. Hamelin and J.C. Marmeggi

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118050

Imagerie 2D et 3D de matériaux monocristallins : topographie et tomographie en diffraction rayons X de très haute énergie p. 437

B. Hamelin, P. Bastie, D. Richard and A. Eiaazzouzi

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118051

Étude comparative des techniques d'analyse par fluorescence X à dispersion d'énergie (ED-XRF) et à dispersion de longueur d'onde (WD-XRF), et par spectrométrie d'émission atomique à source plasma couplée par induction (ICP-AES) p. 447

A. Rahmani, F. Benyaïch, M. Bounakhla, E. Bilal, J. Moutte, J.J. Gruffat and F. Zahry

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118052

Journal de Physique IV (Proceedings)

Volume 118 (November 2004)