Numéro |
J. Phys. IV France
Volume 118, November 2004
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Page(s) | 409 - 411 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:2004118047 |
J. Phys. IV France 118 (2004) 409-411
DOI: 10.1051/jp4:2004118047
Étude de la variation du paramètre de réseau de solutions solides Cu-Ni par diffraction des rayons X
B. Allili, A. Raho et M. Kadi-HanifiLaboratoire “Solutions solides", Faculté de Physique, USTHB, BP. 32, El-Alia, Babezzouar, Alger, Algérie
Abstract
Des solutions solides Cu-Ni avec différentes concentrations de Ni sont élaborées puis analysées aux rayons X pour déterminer leur paramètre de réseau. On utilise la chambre Debye-Scherrer et la méthode d'extrapolation de Nelson et Riley. Les résultats montrent que la variation de ce paramètre en fonction de la concentration de Ni n'obéit pas à la loi de Végard et met en évidence l'existence d'une transition de phase pour une concentration massique de 69% Ni.
© EDP Sciences 2004