Radiographie par rayons X à haute résolution de défauts topologiques en volume de structures modulées comparée aux neutrons en faisceau blanc

Résumé
Une émission de rayons X par un générateur à haute tension (plage : 50 - 410 kV) a été développée pour être utilisée avec un diffractomètre à rayons X durs et caractériser en volume des monocristaux. Le fort flux issu d'une installation de radiologie à foyer fin avec un grand pouvoir de pénétration en profondeur autorise l'étude d'échantillons très absorbants. Quelques exemples de l'utilisation de ces propriétés pour des échantillons épais et très absorbants sont présentés ; principalement l'analyse de contraintes et la topographie X projetée 2D dans des matériaux en comparaison avec l'information par la diffraction des neutrons. La diffraction à haute énergie apparaît dans la direction transmise, les angles de Bragg sont petits et ainsi les différentes lignes de réflexions sont réparties autour du faisceau principal. La presse uni-axiale utilisée pour les expériences est optimisée effectivement avec l'absence d'un bruit de fond dû à l'usage de fentes. L'optique des rayons X durs et neutrons appliquée aux échantillons épais donne une information complémentaire dans les expériences sur l'analyse de la densité volumétrique par la diffusion des rayons X et neutrons. On l'applique à des problèmes concernant des cristaux aux structures modulées étudiées sous des charges mécaniques et thermiques.