J. Phys. IV France 118 (2004) 447-455
DOI: 10.1051/jp4:2004118052

Étude comparative des techniques d'analyse par fluorescence X à dispersion d'énergie (ED-XRF) et à dispersion de longueur d'onde (WD-XRF), et par spectrométrie d'émission atomique à source plasma couplée par induction (ICP-AES)

A. Rahmani¹, F. Benyaïch¹, M. Bounakhla², E. Bilal³, J. Moutte³, J.J. Gruffat³ et F. Zahry<sup>2

1</sup>  Université Moulay Ismaïl, Faculté des Sciences Département de Physique, BP 4010 Béni M'Hamed, 50000 Meknès, Maroc
²  Centre National pour l'Énergie, les Sciences et les Techniques Nucléaires, 65 rue Tansift, Agdal Rabat, Maroc
³  Département GENERIC, Centre SPIN, École des Mines de Saint-Etienne, 158 cours Fauriel, 42023 Saint-Etienne Cedex 2, France

Abstract
Dans ce travail, nous présentons une étude comparative des techniques d'analyse par fluorescence X à dispersion d'énergie (ED-XRF) et à dispersion de longueur d'onde (WD-XRF), et par spectrométrie d'émission atomique à source plasma couplée par induction (ICP-AES). Les résultats de la calibration des spectromètres à dispersion d'énergie, à excitation par sources radioactives (⁵⁵Fe, ¹⁰⁹Cd et ²⁴¹Am) et à excitation secondaire (cible secondaire Mo et Cu) du Centre National pour l'Energie, les Sciences et les Techniques Nucléaires (CNESTEN, Rabat, Maroc) sur des échantillons étalons de références de l'Agence International de l'Energie Atomique (AIEA) et du Community Bureau of Référence (BCR) ont été comparés aux résultats d'analyse des mêmes échantillons étalons par la spectrométrie X à dispersion de longueur d'onde (WD-XRF) et par spectrométrie d'émission atomique à source plasma couplé par induction (ICP-AES) au département GENERIC du centre SPIN à l'Ecole des Mines de Saint-Etienne (France). Les trois techniques d'analyse utilisées donnent des résultats comparables pour le dosage des éléments majeurs, alors que pour les traces on note des déviations importantes à cause des effets de matrice qui sont difficiles à corriger dans le cas de la fluorescence X.

© EDP Sciences 2004