Méthode de Laue refocalisée à haute énergie : développements récents p. Pr5-3 B. Hamelin et P. Bastie DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998501 PDF (2.453 MB)
La modélisation des effets photostructuraux dans des verres calcogénures p. Pr5-9 M. Popescu, A. Lörinczi et F. Sava DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998502 PDF (240.6 KB)
Étude de la microstructure des phases amorphes dans des fibres de nylon-6 par diffraction des rayons X p. Pr5-15 A. Ponnouradjou, R. Piques, A.R. Brunsell, J. Renard et M. Durand DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998503 PDF (370.2 KB)
Détermination, par diffraction des rayons X, de la teneur en phase amorphe de certains matériaux minéraux p. Pr5-23 M. Cyr, B. Husson et A. Carles-Gibergue DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998504 PDF (437.7 KB)
Diffraction de rayons X sur le silicium poreux p. Pr5-31 M. Popescu, F. Sava, A. Lörinczi, I.N. Mihailescu, I. Cojocaru et G. Mihailova DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998505 PDF (223.2 KB)
Experimental study of PbnA liquid crystal p. Pr5-39 K. El Guermai et M. Ayadi DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998506 PDF (234.7 KB)
Smetic phases of two liquid crystal families : TBnA and n.OBPD p. Pr5-47 K. El Guermai et M. Ayadi DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998507 PDF (239.7 KB)
Mesure de forces moléculaires entre bicouches par diffusion de rayons X à pression osmotique contrôlée p. Pr5-55 M. Dubois et Th. Zemb DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998508 PDF (857.4 KB)
Existence d'un paradoxe de Schroeder avec la membrane Nafion ? Étude par diffusion de rayons X aux petits angles p. Pr5-63 N. Cornet, G. Gebel et A. de Geyer DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998509 PDF (1.072 MB)
Analyse par diffraction des rayons X d'une couche de laiton obtenue par dépôt d'une couche de cuivre, d'une couche de zinc et diffusion p. Pr5-69 B. Bolle, A. Tidu et J.J. Heizmann DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998510 PDF (318.4 KB)
Détermination par diffraction des rayons X de la distribution en composition des solutions solides U1-yCeyO2 dans un composite UO2-U1-yCeyO2 p. Pr5-77 P. Buisson, P. Piluso, M. Pernet, P. Germi et M. Trotabas DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998511 PDF (348.2 KB)
Cell parameters refinements showing an influence of the chemical nature of the grain surface on the crystalline characteristics of fine grained powders p. Pr5-85 P. Sarrazin, F. Bernard, G. Calvarin, J.C. Niepce et B. Thierry DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998512 PDF (778.0 KB)
Modelisation of X-ray powder diffraction patterns for the study of heat-treated Fe-rich dioctahedral 2:l layer silicates p. Pr5-91 F. Muller, A. Plançon, V.A. Drits et G. Besson DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998513 PDF (363.7 KB)
Utilisation de la diffraction résonnante pour déterminer la distribution cationique d'un ferrite de titane nanométrique p. Pr5-99 F. Bernard, J. Lorimier, V. Nivoix, N. Millot, N. Keller, P. Perriat et J.F. Bérar DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998514 PDF (407.3 KB)
Modélisation et analyse des profils de raies de diffraction X par des solides nanocristallins p. Pr5-109 N. Audebrand et D. Louër DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998515 PDF (418.3 KB)
Caractérisation de poudres de zircone synthétisées par voie hydrothermale p. Pr5-119 A. Tardot, C. Courtois, A. Rabih, A. Leriche, B. Thierry, F. Bernard et J.C. Niepce DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998516 PDF (202.8 KB)
Analyse des constantes d'élasticité radiocristallographiques et des contraintes résiduelles d'usinage des céramiques AIN par diffraction des rayons X p. Pr5-125 T. Cifarelli, A. Kämpfe, B. Eigenmann et D. Löhe DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998517 PDF (476.8 KB)
Détermination du profil de contraintes résiduelles dans les gorges galetées de Vilebrequin p. Pr5-139 W. Seiler, F. Reilhan, C. Gounet-Lespinasse et J.L. Lebrun DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998518 PDF (316.7 KB)
Utilisation des rayons X pour la mise au point d'un traitement thermochimique d'un acier à roulement p. Pr5-147 N. Binot, J. Durr, A. Viville, J. Lopitaux et C. Robin DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998519 PDF (1.053 MB)
Caractérisation structurale et contraintes résiduelles de films d'AIN par diffraction des rayons X p. Pr5-153 C. Meneau, Ph. Goudeau, P. Andreazza, C. Andreazza-Vignolle et J.C. Pommier DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998520 PDF (504.7 KB)
Détermination des défauts des appareils d'analyse des contraintes p. Pr5-163 F. Convert et B. Miège DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998521 PDF (1.076 MB)
Les figures de pôles généralisées et leur utilisation dans l'analyse microstructurale des matériaux p. Pr5-171 A. Tidu, C. Schuman, L. Jolly et J.J. Heizmann DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998522 PDF (333.7 KB)
Oxydation d'alliages de zirconium : gradients de phase et texture p. Pr5-179 N. Pétigny, Ch. Valot, P. Barberis, M. Lallemant, D. Ciosmak, M.T. Mesnier, J.J. Heizmann, A. Vadon et C. Laruelle DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998523 PDF (881.4 KB)
Application de la diffraction en transmission d'un rayonnement X polychromatique à l'étude des contraintes et de particules en suspension liquide p. Pr5-187 B. Lavelle DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998524 PDF (278.3 KB)
Étude de texture hétérogène d'une couche mince par diffraction X p. Pr5-193 K. El Ghazouli, J.J Heizmann, C. Laruelle et B. Bolle DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998525 PDF (301.5 KB)
La diffraction de rayons X en incidence rasante à l'ESRF : application à l'étude de surfaces et d'interfaces à base d'oxydes p. Pr5-203 A. Barbier, G. Renaud, O. Robach et P. Guénard DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998526 PDF (584.2 KB)
Utilisation de la transformée de Fourier glissante dans l'analyse de courbes de réflectivité des rayons X sous incidence rasante p. Pr5-215 E. Smigiel, A. Knoll, N. Broll et A. Cornet DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998527 PDF (262.8 KB)
Réflectométrie X de couches de cermet p. Pr5-223 B. Pardo, F. Bridou, C. Sella et J. Corno DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998528 PDF (799.1 KB)
Étude par diffraction X en température de la mise en ordre dans des couches minces AuNi épitaxiées sur substrat Au(100) p. Pr5-231 I. Schuster, G. Abadias, B. Gilles et A. Marty DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998529 PDF (491.1 KB)
Précautions à prendre lors de la caractérisation par XRD de dépôts de nitrure de carbone sur Si(100) p. Pr5-241 S. Collard et W. Hoyer DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998530 PDF (278.4 KB)
Influence de l'orientation cristalline sur la résistance à l'oxydation de revêtements de AIN : étude in-situ par diffractométrie X p. Pr5-249 Y. Casaux, A. Dollet, F. Sibieude et R. Berjoan DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998531 PDF (921.1 KB)
Caractérisation structurale et morphologique de couches minces épitaxiées de Cd1-xZnxTe déposées sur GaAs(001) par ablation laser p. Pr5-257 J.L. Deiss, J.L. Loison, D. Ohlmann, M. Robino, C. Ulhaq-Bouillet et G. Versini DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998532 PDF (917.1 KB)
Aspects complémentaires entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale dans le cas d'entités de taille nanométrique supportés sur un oxyde léger : agrégats métalliques et oxyde de type spinelle p. Pr5-263 D. Bazin, R. Revel, H. Dexpert, E. Elkaim, J.P. Lauriat, F. Garin, F. Maire, L. Guczi et G. Lu DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998533 PDF (943.6 KB)
Apport des techniques XRFS et LEEIXS à l'étude de la formation de films de silice sur acier par PACVD p. Pr5-271 N. Bahlawane, M. Charbonnier et M. Romand DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998534 PDF (404.9 KB)
Caractérisation par émission X de films de carbone et de nitrure de carbone déposés par PVD p. Pr5-279 J. Baborowski, M. Charbonnier et M. Romand DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998535 PDF (354.7 KB)
Étude par émission de rayons X de films d'oxyde de cuivre formés sur des substrats de cuivre p. Pr5-287 J. Baborowski, B.J. Love, M. Romand et M. Charbonnier DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998536 PDF (709.3 KB)
Étude morphologique d'agrégats inclus dans des couches minces superficielles par diffusion centrale des rayons X en incidence rasante p. Pr5-295 D. Babonneau, A. Naudon, T. Cabioc'h, D. Thiaudiere, O. Lyon et F. Petroff DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998537 PDF (532.5 KB)
Analyse microstructurale de couches minces de Ti-B-N élaborées par pulvérisation cathodique magnétron p. Pr5-303 N. Guillon et R.Y. Fillit DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998538 PDF (218.6 KB)
Étude de la fluorescence du fer dans une multicouche périodique Fe/C éclairée sous incidence rasante par un faisceau de rayons X monochromatique p. Pr5-309 F. Bridou, J.P. Chauvineau et A. Mirone DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998539 PDF (395.5 KB)
The concordance of algorithms and influence coefficients for the correction for matrix effects in XRF p. Pr5-319 G.R. Lachance DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998540 PDF (223.0 KB)
Quelques développements récents ou en cours concernant la technique des perles p. Pr5-327 F. Claisse DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998541 PDF (363.3 KB)
Fast analysis of traces and major elements with ED(P)XRF using polarized X-rays: TURBOQUANT p. Pr5-335 R. Schramm et J. Heckel DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998542 PDF (294.1 KB)
Détermination directe des éléments tracés et des majeurs dans les charbons par fluorescence X à dispersion d'énergie p. Pr5-343 R. Heimburger, D. Davenet, T. Faller, D. Passe, E. Zimpfer et M.J.F Leroy DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998543 PDF (373.2 KB)
Analyse d'eaux radioactives d'un condenseur de réacteur nucléaire par spectrométrie de fluorescence X à réflexion totale (TXRF), dans un laboratoire en zone surveillée sans protection biologique p. Pr5-351 P. Trabuc, Ph. Llug et Ph. Bienvenu DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998544 PDF (299.1 KB)
Validation de la méthode d'étalonnage en couche mince par utilisation de géostandards déposés sur filtres pour l'analyse élémentaire par SFX p. Pr5-359 J.P. Quisefit et E. Randrianarivony DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998545 PDF (462.7 KB)
Utilisation de l'analyse SFX pour le dosage du silicium organique et du silicium inorganique dans des échantillons biologiques ou environnementaux p. Pr5-369 F. Clanet, G. Malingre, D. Rocher et M. Rousseau DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998546 PDF (368.5 KB)
Choix de la composition optimale d'un borate de lithium dans la préparation des perles pour analyses par fluo-X p. Pr5-379 F. Claisse DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998547 PDF (246.3 KB)
Analyse multi-élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie des apports fluviatiles et des sédiments superficiels de la plate-forme atlantique du Maroc p. Pr5-385 M. Bounakhla, A. Sabir, M. Labraimi, A. El Hamdaoui, M. Ibn Majah et M. Bahlouli DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998548 PDF (322.6 KB)
L'ostéite infectieuse en paléopathologie : intérêt des analyses par rayons X p. Pr5-393 J. Blondiaux, Ch.-A. Baud, J. Dürr et R.-M. Flipo DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998549 PDF (400.7 KB)
Spectre d'émission X et liaison chimique p. Pr5-399 F. Hochu, M. Lenglet et J. Dürr DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998550 PDF (233.3 KB)
Caractérisation et spéciation chimique à l'échelle micrométrique utilisant le rayonnement synchrotron p. Pr5-407 P. Chevallier, A. Firsov, P. Populus et F. Legrand DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998551 PDF (367.4 KB)
Élaboration de capillaires en verre pour focalisation des rayons X. Application des micro-faisceaux X en cristallographie p. Pr5-413 C. Burggraf, Chr. Burggraf, C. Koenig, P. Siffert, M. Hage-Ali, R. Winfield, P. Kelly, A. Rafferty, G. Crean, E. Uggerhoj et al. (3 de plus) DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998552 PDF (252.9 KB)
Conception d'une chambre de diffraction RX haute température pour l'étude de l'adsorption d'un gaz par un solide sous haute pression p. Pr5-421 N. Gerard, G. Weber, V. François, M. T. Mesnier, J. F. Mazue et C. Paulin DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998553 PDF (493.2 KB)
Étude de la cinétique de l'oxydation des aciers à hautes températures par réflectométrie des rayons X p. Pr5-429 A. Knoll, E. Smigiel, N. Broll et A. Cornet DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998554 PDF (257.1 KB)
Détermination des microdéformations dans des matériaux composites spinelle-zircone par diffractométrie X haute résolution en réflexion asymétrique p. Pr5-437 O. Masson, Z. Oudjedi, A. Fillon, R. Guinebretière et A. Dauger DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998555 PDF (359.5 KB)
La spectrométrie de fluorescence X et la microsonde électronique, techniques complémentaires pour la détermination précise du chlore à l'état de trace dans les verres volcaniques formés au niveau des dorsales océaniques p. Pr5-445 J. Etoubleau, M. Bohn, P. Cambon et L. Willem DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998556 PDF (350.6 KB)
Effet d'une élévation de température sur les performances dans le domaine des rayons X d'un miroir interférentiel multicouche Mo/Si p. Pr5-453 J.-M. André, R. Barchewitz, F. Bridou, B. Pardo, S. Bac, V. Greiner et P. Troussel DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998557 PDF (224.8 KB)
Calibration accuracy for transmission geometry and molybdenum wavelength : a study on NaC p. Pr5-459 I. Rannou et F. Muller DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998558 PDF (225.7 KB)
A miniature XRD/XRF instrument for in-situ characterization of Martian soils and rocks p. Pr5-465 P. Sarrazin, D. Blake, D. Bish, D. Vaniman et S. Collins DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998559 PDF (334.2 KB)
Exaltation de la photoluminescence de BaFBr:Eu2+ par l'action de divers contaminants p. Pr5-471 M. Sieskind, N. Broll et J. Tripier DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998560 PDF (169.5 KB)
Caractérisation structurale sous haute pression et en température par diffraction des rayons X p. Pr5-481 Ph. Faure, N. Rambert, S. Ragot, A Gueugnot, C. Genestier, B. Sitaud et J.P. Itié DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998561 PDF (364.2 KB)
Étude par diffraction des rayons X des transformations de phase d'un alliage à mémoire de forme équiatomique TiNi en fonction du taux de déformation et du traitement thermique p. Pr5-489 F. Baghdouche, A. Vadon et J.J. Heizmann DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998562 PDF (335.1 KB)
Développements récents de l'étude en temps réel par diffraction des rayons X couplée à une thermographie infrarouge : application au suivi de la réaction MASHS dans les systèmes FeAl, et MoSi2 p. Pr5-497 F. Charlot, C . Gras, M. Gramond, E. Gaffet, F. Bernard et J.C. Niepce DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998563 PDF (459.0 KB)
Oxidation of the turbine blade material CMSX4 studied by X-ray diffraction p. Pr5-505 M. Gross, J. Goitia Bigordà, V. Kolarik et W. Engel DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998564 PDF (260.5 KB)
Contribution à la détermination de la structure de l'alite par diffraction des rayons X sur poudres p. Pr5-511 M. Bellotto et M. Signes-Frehel DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998565 PDF (308.6 KB)
Caractérisation par diffraction X de l'attaque superficielle de pâtes de ciment en milieu sulfatiques p. Pr5-519 R. Jauberthie, I. Robu, C. Lanos, F. Mortreuil et J.P. Camps DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998566 PDF (222.5 KB)
Application of X-ray diffraction to the study of limestone patinas p. Pr5-525 B. Brunet-Imbault, I. Rannou, F. Muller et M. Rautureau DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998567 PDF (272.0 KB)
Évolution de la cristallinite des silicates de chaux hydratés p. Pr5-531 R. Jauberthie, H. Cortes, C. Lanos et F. Mortreuil DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998568 PDF (296.3 KB)
Analyse par DRX et MET de l'évolution de la solution solide LaNixFe1-xO3 et de la ségrégation de nickel dans les conditions d'obtention du gaz de synthèse par oxydation partielle du méthane p. Pr5-539 H. Provendier, C. Petit, G. Ehret et A. Kiennemann DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998569 PDF (3.612 MB)
Modélisation de particules bimétalliques Pt+Rh : application à un catalyseur académique de dépollution automobile de moteurs à essence étudié par EXAFS p. Pr5-547 V. Pitchon, S. Schneider, R. Rohé, D. Bazin et G. Maire DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998570 PDF (926.2 KB)
Study by XPS and XAS (XANES) of tungsten oxides based catalysts : WO2, WO3, 1 % Pd/WO2 and 1 % Pd/WO3 p. PR5-553 C. Bigey, V. Logie, A. Bensaddik, J.L. Schmitt et G. Maire DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998571 PDF (2.188 MB)
Classement des bois de structure au moyen d'un densimètre à rayons X p. PR5-561 J.-D. Lanvin, N. Nasri, D. Chambellan et G. Pascal DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998572 PDF (310.0 KB)
