Journal de Physique IV

Méthode de Laue refocalisée à haute énergie : développements récents p. Pr5-3

B. Hamelin and P. Bastie

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998501

La modélisation des effets photostructuraux dans des verres calcogénures p. Pr5-9

M. Popescu, A. Lörinczi and F. Sava

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998502

Étude de la microstructure des phases amorphes dans des fibres de nylon-6 par diffraction des rayons X p. Pr5-15

A. Ponnouradjou, R. Piques, A.R. Brunsell, J. Renard and M. Durand

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998503

Détermination, par diffraction des rayons X, de la teneur en phase amorphe de certains matériaux minéraux p. Pr5-23

M. Cyr, B. Husson and A. Carles-Gibergue

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998504

Diffraction de rayons X sur le silicium poreux p. Pr5-31

M. Popescu, F. Sava, A. Lörinczi, I.N. Mihailescu, I. Cojocaru and G. Mihailova

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998505

Experimental study of PbnA liquid crystal p. Pr5-39

K. El Guermai and M. Ayadi

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998506

Smetic phases of two liquid crystal families : TBnA and n.OBPD p. Pr5-47

K. El Guermai and M. Ayadi

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998507

Mesure de forces moléculaires entre bicouches par diffusion de rayons X à pression osmotique contrôlée p. Pr5-55

M. Dubois and Th. Zemb

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998508

Existence d'un paradoxe de Schroeder avec la membrane Nafion ? Étude par diffusion de rayons X aux petits angles p. Pr5-63

N. Cornet, G. Gebel and A. de Geyer

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998509

Analyse par diffraction des rayons X d'une couche de laiton obtenue par dépôt d'une couche de cuivre, d'une couche de zinc et diffusion p. Pr5-69

B. Bolle, A. Tidu and J.J. Heizmann

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998510

Détermination par diffraction des rayons X de la distribution en composition des solutions solides U_1-yCe_yO₂ dans un composite UO₂-U_1-yCe_yO₂ p. Pr5-77

P. Buisson, P. Piluso, M. Pernet, P. Germi and M. Trotabas

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998511

Cell parameters refinements showing an influence of the chemical nature of the grain surface on the crystalline characteristics of fine grained powders p. Pr5-85

P. Sarrazin, F. Bernard, G. Calvarin, J.C. Niepce and B. Thierry

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998512

Modelisation of X-ray powder diffraction patterns for the study of heat-treated Fe-rich dioctahedral 2:l layer silicates p. Pr5-91

F. Muller, A. Plançon, V.A. Drits and G. Besson

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998513

Utilisation de la diffraction résonnante pour déterminer la distribution cationique d'un ferrite de titane nanométrique p. Pr5-99

F. Bernard, J. Lorimier, V. Nivoix, N. Millot, N. Keller, P. Perriat and J.F. Bérar

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998514

Modélisation et analyse des profils de raies de diffraction X par des solides nanocristallins p. Pr5-109

N. Audebrand and D. Louër

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998515

Caractérisation de poudres de zircone synthétisées par voie hydrothermale p. Pr5-119

A. Tardot, C. Courtois, A. Rabih, A. Leriche, B. Thierry, F. Bernard and J.C. Niepce

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998516

Analyse des constantes d'élasticité radiocristallographiques et des contraintes résiduelles d'usinage des céramiques AIN par diffraction des rayons X p. Pr5-125

T. Cifarelli, A. Kämpfe, B. Eigenmann and D. Löhe

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998517

Détermination du profil de contraintes résiduelles dans les gorges galetées de Vilebrequin p. Pr5-139

W. Seiler, F. Reilhan, C. Gounet-Lespinasse and J.L. Lebrun

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998518

Utilisation des rayons X pour la mise au point d'un traitement thermochimique d'un acier à roulement p. Pr5-147

N. Binot, J. Durr, A. Viville, J. Lopitaux and C. Robin

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998519

Caractérisation structurale et contraintes résiduelles de films d'AIN par diffraction des rayons X p. Pr5-153

C. Meneau, Ph. Goudeau, P. Andreazza, C. Andreazza-Vignolle and J.C. Pommier

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998520

Détermination des défauts des appareils d'analyse des contraintes p. Pr5-163

F. Convert and B. Miège

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998521

Les figures de pôles généralisées et leur utilisation dans l'analyse microstructurale des matériaux p. Pr5-171

A. Tidu, C. Schuman, L. Jolly and J.J. Heizmann

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998522

Oxydation d'alliages de zirconium : gradients de phase et texture p. Pr5-179

N. Pétigny, Ch. Valot, P. Barberis, M. Lallemant, D. Ciosmak, M.T. Mesnier, J.J. Heizmann, A. Vadon and C. Laruelle

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998523

Application de la diffraction en transmission d'un rayonnement X polychromatique à l'étude des contraintes et de particules en suspension liquide p. Pr5-187

B. Lavelle

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998524

Étude de texture hétérogène d'une couche mince par diffraction X p. Pr5-193

K. El Ghazouli, J.J Heizmann, C. Laruelle and B. Bolle

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998525

La diffraction de rayons X en incidence rasante à l'ESRF : application à l'étude de surfaces et d'interfaces à base d'oxydes p. Pr5-203

A. Barbier, G. Renaud, O. Robach and P. Guénard

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998526

Utilisation de la transformée de Fourier glissante dans l'analyse de courbes de réflectivité des rayons X sous incidence rasante p. Pr5-215

E. Smigiel, A. Knoll, N. Broll and A. Cornet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998527

Réflectométrie X de couches de cermet p. Pr5-223

B. Pardo, F. Bridou, C. Sella and J. Corno

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998528

Étude par diffraction X en température de la mise en ordre dans des couches minces AuNi épitaxiées sur substrat Au(100) p. Pr5-231

I. Schuster, G. Abadias, B. Gilles and A. Marty

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998529

Précautions à prendre lors de la caractérisation par XRD de dépôts de nitrure de carbone sur Si(100) p. Pr5-241

S. Collard and W. Hoyer

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998530

Influence de l'orientation cristalline sur la résistance à l'oxydation de revêtements de AIN : étude in-situ par diffractométrie X p. Pr5-249

Y. Casaux, A. Dollet, F. Sibieude and R. Berjoan

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998531

Caractérisation structurale et morphologique de couches minces épitaxiées de Cd_1-xZn_xTe déposées sur GaAs(001) par ablation laser p. Pr5-257

J.L. Deiss, J.L. Loison, D. Ohlmann, M. Robino, C. Ulhaq-Bouillet and G. Versini

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998532

Aspects complémentaires entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale dans le cas d'entités de taille nanométrique supportés sur un oxyde léger : agrégats métalliques et oxyde de type spinelle p. Pr5-263

D. Bazin, R. Revel, H. Dexpert, E. Elkaim, J.P. Lauriat, F. Garin, F. Maire, L. Guczi and G. Lu

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998533

Apport des techniques XRFS et LEEIXS à l'étude de la formation de films de silice sur acier par PACVD p. Pr5-271

N. Bahlawane, M. Charbonnier and M. Romand

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998534

Caractérisation par émission X de films de carbone et de nitrure de carbone déposés par PVD p. Pr5-279

J. Baborowski, M. Charbonnier and M. Romand

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998535

Étude par émission de rayons X de films d'oxyde de cuivre formés sur des substrats de cuivre p. Pr5-287

J. Baborowski, B.J. Love, M. Romand and M. Charbonnier

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998536

Étude morphologique d'agrégats inclus dans des couches minces superficielles par diffusion centrale des rayons X en incidence rasante p. Pr5-295

D. Babonneau, A. Naudon, T. Cabioc'h, D. Thiaudiere, O. Lyon and F. Petroff

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998537

Analyse microstructurale de couches minces de Ti-B-N élaborées par pulvérisation cathodique magnétron p. Pr5-303

N. Guillon and R.Y. Fillit

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998538

Étude de la fluorescence du fer dans une multicouche périodique Fe/C éclairée sous incidence rasante par un faisceau de rayons X monochromatique p. Pr5-309

F. Bridou, J.P. Chauvineau and A. Mirone

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998539

The concordance of algorithms and influence coefficients for the correction for matrix effects in XRF p. Pr5-319

G.R. Lachance

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998540

Quelques développements récents ou en cours concernant la technique des perles p. Pr5-327

F. Claisse

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998541

Fast analysis of traces and major elements with ED(P)XRF using polarized X-rays: TURBOQUANT p. Pr5-335

R. Schramm and J. Heckel

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998542

Détermination directe des éléments tracés et des majeurs dans les charbons par fluorescence X à dispersion d'énergie p. Pr5-343

R. Heimburger, D. Davenet, T. Faller, D. Passe, E. Zimpfer and M.J.F Leroy

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998543

Analyse d'eaux radioactives d'un condenseur de réacteur nucléaire par spectrométrie de fluorescence X à réflexion totale (TXRF), dans un laboratoire en zone surveillée sans protection biologique p. Pr5-351

P. Trabuc, Ph. Llug and Ph. Bienvenu

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998544

Validation de la méthode d'étalonnage en couche mince par utilisation de géostandards déposés sur filtres pour l'analyse élémentaire par SFX p. Pr5-359

J.P. Quisefit and E. Randrianarivony

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998545

Utilisation de l'analyse SFX pour le dosage du silicium organique et du silicium inorganique dans des échantillons biologiques ou environnementaux p. Pr5-369

F. Clanet, G. Malingre, D. Rocher and M. Rousseau

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998546

Choix de la composition optimale d'un borate de lithium dans la préparation des perles pour analyses par fluo-X p. Pr5-379

F. Claisse

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998547

Analyse multi-élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie des apports fluviatiles et des sédiments superficiels de la plate-forme atlantique du Maroc p. Pr5-385

M. Bounakhla, A. Sabir, M. Labraimi, A. El Hamdaoui, M. Ibn Majah and M. Bahlouli

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998548

L'ostéite infectieuse en paléopathologie : intérêt des analyses par rayons X p. Pr5-393

J. Blondiaux, Ch.-A. Baud, J. Dürr and R.-M. Flipo

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998549

Spectre d'émission X et liaison chimique p. Pr5-399

F. Hochu, M. Lenglet and J. Dürr

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998550

Caractérisation et spéciation chimique à l'échelle micrométrique utilisant le rayonnement synchrotron p. Pr5-407

P. Chevallier, A. Firsov, P. Populus and F. Legrand

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998551

Élaboration de capillaires en verre pour focalisation des rayons X. Application des micro-faisceaux X en cristallographie p. Pr5-413

C. Burggraf, Chr. Burggraf, C. Koenig, P. Siffert, M. Hage-Ali, R. Winfield, P. Kelly, A. Rafferty, G. Crean, E. Uggerhoj et al. (3 more)

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998552

Conception d'une chambre de diffraction RX haute température pour l'étude de l'adsorption d'un gaz par un solide sous haute pression p. Pr5-421

N. Gerard, G. Weber, V. François, M. T. Mesnier, J. F. Mazue and C. Paulin

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998553

Étude de la cinétique de l'oxydation des aciers à hautes températures par réflectométrie des rayons X p. Pr5-429

A. Knoll, E. Smigiel, N. Broll and A. Cornet

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998554

Détermination des microdéformations dans des matériaux composites spinelle-zircone par diffractométrie X haute résolution en réflexion asymétrique p. Pr5-437

O. Masson, Z. Oudjedi, A. Fillon, R. Guinebretière and A. Dauger

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998555

La spectrométrie de fluorescence X et la microsonde électronique, techniques complémentaires pour la détermination précise du chlore à l'état de trace dans les verres volcaniques formés au niveau des dorsales océaniques p. Pr5-445

J. Etoubleau, M. Bohn, P. Cambon and L. Willem

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998556

Effet d'une élévation de température sur les performances dans le domaine des rayons X d'un miroir interférentiel multicouche Mo/Si p. Pr5-453

J.-M. André, R. Barchewitz, F. Bridou, B. Pardo, S. Bac, V. Greiner and P. Troussel

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998557

Calibration accuracy for transmission geometry and molybdenum wavelength : a study on NaC p. Pr5-459

I. Rannou and F. Muller

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998558

A miniature XRD/XRF instrument for in-situ characterization of Martian soils and rocks p. Pr5-465

P. Sarrazin, D. Blake, D. Bish, D. Vaniman and S. Collins

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998559

Exaltation de la photoluminescence de BaFBr:Eu²⁺ par l'action de divers contaminants p. Pr5-471

M. Sieskind, N. Broll and J. Tripier

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998560

Caractérisation structurale sous haute pression et en température par diffraction des rayons X p. Pr5-481

Ph. Faure, N. Rambert, S. Ragot, A Gueugnot, C. Genestier, B. Sitaud and J.P. Itié

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998561

Étude par diffraction des rayons X des transformations de phase d'un alliage à mémoire de forme équiatomique TiNi en fonction du taux de déformation et du traitement thermique p. Pr5-489

F. Baghdouche, A. Vadon and J.J. Heizmann

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998562

Développements récents de l'étude en temps réel par diffraction des rayons X couplée à une thermographie infrarouge : application au suivi de la réaction MASHS dans les systèmes FeAl, et MoSi₂ p. Pr5-497

F. Charlot, C . Gras, M. Gramond, E. Gaffet, F. Bernard and J.C. Niepce

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998563

Oxidation of the turbine blade material CMSX4 studied by X-ray diffraction p. Pr5-505

M. Gross, J. Goitia Bigordà, V. Kolarik and W. Engel

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998564

Contribution à la détermination de la structure de l'alite par diffraction des rayons X sur poudres p. Pr5-511

M. Bellotto and M. Signes-Frehel

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998565

Caractérisation par diffraction X de l'attaque superficielle de pâtes de ciment en milieu sulfatiques p. Pr5-519

R. Jauberthie, I. Robu, C. Lanos, F. Mortreuil and J.P. Camps

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998566

Application of X-ray diffraction to the study of limestone patinas p. Pr5-525

B. Brunet-Imbault, I. Rannou, F. Muller and M. Rautureau

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998567

Évolution de la cristallinite des silicates de chaux hydratés p. Pr5-531

R. Jauberthie, H. Cortes, C. Lanos and F. Mortreuil

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998568

Analyse par DRX et MET de l'évolution de la solution solide LaNi_xFe_1-xO₃ et de la ségrégation de nickel dans les conditions d'obtention du gaz de synthèse par oxydation partielle du méthane p. Pr5-539

H. Provendier, C. Petit, G. Ehret and A. Kiennemann

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998569

Modélisation de particules bimétalliques Pt+Rh : application à un catalyseur académique de dépollution automobile de moteurs à essence étudié par EXAFS p. Pr5-547

V. Pitchon, S. Schneider, R. Rohé, D. Bazin and G. Maire

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998570

Study by XPS and XAS (XANES) of tungsten oxides based catalysts : WO₂, WO₃, 1 % Pd/WO₂ and 1 % Pd/WO₃ p. PR5-553

C. Bigey, V. Logie, A. Bensaddik, J.L. Schmitt and G. Maire

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998571

Classement des bois de structure au moyen d'un densimètre à rayons X p. PR5-561

J.-D. Lanvin, N. Nasri, D. Chambellan and G. Pascal

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998572

Le Journal de Physique IV

Volume 08 / Numéro PR5 (October 1998)

Rayons X et Matière