Apports de la tomographie atomique dans l'observation et l'analyse des interfaces

D. Blavette; F. Danoix; E. Cadel; G. Géandier; A. Menand

doi:doi:10.1051/jp4:1999414

Numéro		J. Phys. IV France Volume 09, Numéro PR4, April 1999 41^e Colloque de Métallurgie de l'INSTN Ségrégation interfaciale dans les solides


Page(s)		Pr4-113 - Pr4-121
DOI		https://doi.org/10.1051/jp4:1999414

41^e Colloque de Métallurgie de l'INSTN
Ségrégation interfaciale dans les solides

J. Phys. IV France 09 (1999) Pr4-113-Pr4-121
DOI: 10.1051/jp4:1999414

Apports de la tomographie atomique dans l'observation et l'analyse des interfaces

D. Blavette, F. Danoix, E. Cadel, G. Géandier and A. Menand

Groupe de Métallurgie Physique, UMR 6634, Université de Rouen, 76134 Mont-Saint-Aignan cedex, France

Résumé
la sonde atomique tomographique développée à l'université de Rouen est une nouvelle technique combinant microscopie et microanalyse quantitative à une échelle proche de la maille cristalline. L'instrument produit pour chaque espèce, une image tridimensionnelle du petit élément de volume analysé (10x10x100 nm³) résolue à l'échelle du plan atomique. Différentes applications de cette nouvelle technique dans l'étude des interfaces interphase et des joints de grains sont données : ségrégation du chrome aux interfaces γ /α₂ dans les aluminiures de titane, nano-précipitation aux joints interphase ferrite-cémentite dans des aciers perlitiques, chimie locale des joints de grains dans des superalliages à base de nickel.