Numéro |
J. Phys. IV France
Volume 09, Numéro PR4, April 1999
41e Colloque de Métallurgie de l'INSTNSégrégation interfaciale dans les solides |
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Page(s) | Pr4-123 - Pr4-128 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1999415 |
41e Colloque de Métallurgie de l'INSTN
Ségrégation interfaciale dans les solides
J. Phys. IV France 09 (1999) Pr4-123-Pr4-128
DOI: 10.1051/jp4:1999415
1 Département de Recherche Fondamentale sur la Matière Condensée, CEA Grenoble, 17 avenue des Martyrs, 38054 Grenoble cedex 9, France
2 Laboratoire de Structure et Propriétés de l'État Solide, Université des Sciences et Technologies de Lille, 59655 Villeneuve-d'Ascq cedex, France
3 Institute of Physics, AV CR, Na Slovance 2, 18040 Praha 8, Czech Republic
© EDP Sciences 1999
Ségrégation interfaciale dans les solides
J. Phys. IV France 09 (1999) Pr4-123-Pr4-128
DOI: 10.1051/jp4:1999415
Étude par microscopie à haute résolution et imagerie filtrée de la ségrégation et du début de précipitation dans les joints de grains
J.-M. Pénisson1, M. Bacia2 and T. Vystavel1, 31 Département de Recherche Fondamentale sur la Matière Condensée, CEA Grenoble, 17 avenue des Martyrs, 38054 Grenoble cedex 9, France
2 Laboratoire de Structure et Propriétés de l'État Solide, Université des Sciences et Technologies de Lille, 59655 Villeneuve-d'Ascq cedex, France
3 Institute of Physics, AV CR, Na Slovance 2, 18040 Praha 8, Czech Republic
Résumé
La structure et la chimie locales des joints de grains et des interfaces dans les matériaux conditionnent
leurs propriétés physiques. Leur détermination est donc un problème majeur. La microscopie électronique est un des moyens
d'étude privilégié de ces problèmes car elle permet de donner des informations structurales très localisées en mode image ou
diffraction. Le couplage d'un microscope en transmission à un filtre en énergie lui confere des possibilités d'analyse chimique.
Si le filtre est lui même équipé d'une optique complémentaire, des images chimiques donnant, avec une bonne résolution, la
répartition des éléments chimiques au sein de l'échantillon peuvent être obtenues.
© EDP Sciences 1999