Méthode de Laue refocalisée à haute énergie : développements récents

Résumé
Un appareillage spécialement dédié à la mise en oeuvre de la méthode de Laue refocalisée à haute énergie (100-400 keV) a été installé l'Institut Laue Langevin. Il permet de disposer de trois lignes avec des configurations, des caractéristiques et des résolutions différentes. Après la description du dispositif, nous préciserons ses performances. Puis, au travers d'exemples pris sur des cristaux parfaits ou imparfaits, nous montrerons les informations obtenues lors de l'étude ou de la caractérisation de monocristaux ; en particulier les possibilités de localisation des défauts au moyen de mesures topographiques seront présentées. Enfin les potentialités de cet instrument pour l'étude en volume de la texture des matériaux polycristallins seront démontrées.

Abstract
An original set-up dedicated to the focusing Laue method at high energy (100-400 keV) was installed at the Institut Laue Langevin. Three beam lines are available with three different characteristics and resolutions. After the description of the apparatus, the obtained performances will be given. Through examples taken from perfect and imperfect crystals, the type of information got during the study or the characterisation of single crystals will be presented ; specially the possibility to localise the defects by mean of topographic measurements will be emphasised. At last the capabilities of this type of apparatus for bulk measurements of the texture of polycrystalline materials will be shown.