Nanoanalyse des ségrégations d'équilibre en microscopie électronique en transmission

Résumé
La possibilité d'obtenir des résolutions spatiales de l'ordre du nanomètre grâce aux microscopes électroniques en transmission équipés de filaments à émission de champ a nettement fait progresser l'analyse des ségrégations d'équilibre intergranulaires notamment dans les métaux et alliages. Les deux techniques d'analyse utilisées sont la spectroscopie des rayons X et la spectroscopie de pertes d'énergie des électrons transmis. Les modes d'acquisition des spectres (acquisition parallèle, concept de spectre-image, modes différence en énergie) et les méthodes de traitement des données pour l'analyse quantitative sont en constante progression. Hormis la détection des ségrégations et la mesure des compositions chimiques interfaciales, l'analyse et la cartographie des structures fines aux seuils d'absorption fournissent des informations spécifiques concernant l'environnement et la liaison atomiques à l'interface. Ce type d'informations est d'un grand intérêt pour la compréhension du rôle joué par les ségrégations interfaciales dans les propriétés des matériaux.