Numéro
J. Phys. IV France
Volume 08, Numéro PR5, October 1998
Rayons X et Matière
Page(s) Pr5-203 - Pr5-213
DOI https://doi.org/10.1051/jp4:1998526
Rayons X et Matière

J. Phys. IV France 08 (1998) Pr5-203-Pr5-213

DOI: 10.1051/jp4:1998526

La diffraction de rayons X en incidence rasante à l'ESRF : application à l'étude de surfaces et d'interfaces à base d'oxydes

A. Barbier, G. Renaud, O. Robach and P. Guénard

GEA/Grenoble, Département de Recherche Fondamentale sur la Matière Condensée, Service de Physique des Matériaux et des Microstructures, IRS, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble cedex 9, France


Résumé
Après une brève introduction portant sur l'étude de surfaces et d'interfaces par rayons X nous présentons dans cet article les bases théoriques élémentaires de cette technique ainsi qu'une brève introduction à la problématique liée aux surfaces d'oxydes et aux interfaces métal/oxydes. Nous montrons que cette technique est bien adaptée à ce type de matériaux et qu'elle permet de répondre avec précision à des questions aussi diverses que la relaxation de surface, la reconstruction de surface et la croissance de couches minces. Le propos est illustré par des expériences récentes réalisées sur diverses lignes de l'ESRF (European Synchrotron Radiation Facility).


Abstract
After a brief introduction to the interaction of X-rays with surfaces and interfaces we present in this paper the basic principles of the technique and an introduction to oxide surfaces and metal/oxide interfaces. We show that this technique is well adapted to these materials and allows one to address precisely various questions like surface relaxation, surface reconstruction and the growth of thin films. Examples of recent experiments performed on different beamlines of the ESRF (European Synchrotron Radiation Facility) are given in order to illustrate the different possibilities.



© EDP Sciences 1998