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J. Phys. IV France
Volume 08, Numéro PR5, October 1998
Rayons X et Matière
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| Page(s) | Pr5-77 - Pr5-84 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1998511 | |
J. Phys. IV France 08 (1998) Pr5-77-Pr5-84
DOI: 10.1051/jp4:1998511
Détermination par diffraction des rayons X de la distribution en composition des solutions solides U1-yCeyO2 dans un composite UO2-U1-yCeyO2
P. Buisson1, P. Piluso1, M. Pernet2, P. Germi2 and M. Trotabas31 Laboratoire des Céramiques Nucléaires, CEA, DRN/DEC/SPU, Centre de Cadarache, 13108 Saint-Paul-lez-Durance, France
2 Laboratoire de Cristallographie, Équipe Texture, CNRS, 25 avenue des Martyrs, BP. 166, 38042 Grenoble cedex 9, France
3 Cogema, Branche Combustible Nucléaire, Cellule Technique, 2 rue Paul Dautier, BP. 1, 78141 Vélizy cedex, France
Résumé
Le matériau composite UO2 - U1-y Cey O2 est utilisé pour simuler le combustible nucléaire MOX U1-y PuyO2. La caractérisation par diffraction des rayons X de cette famille de matériaux met en évidence une distribution en composition cationique de type fluorine (MO2). Différentes méthodes ont été testées pour déterminer la distribution en composition cationique. La méthode de Rietveld adaptée à ce cas particulier semble le mieux convenir. Les profils enregistrés à partir d'un diffractomètre à rayonnement monochromatique sont décomposés par le logiciel Profile en plusieurs pics. Leurs caractéristiques sont proches de celles de l'étalon choisi (UO2) pour déterminer la fonction de résolution instrumentale.
Abstract
The composite material UO2 - U1-y Cey O2 is used to simulate the MOX nuclear fuel U1-y PuyO2. The characterization of these materials by X-ray diffraction shows a cationic composition distribution of fluorite-type (MO2). Different methods are tested to determine the distribution of cationic composition. The Rietveld method suited to this particular case seems to be the best. Profiles are recorded by diffractometer using monochromatic radiation. They are refined with the Profile program in several peaks whose parameters are close to those of the standard reference material (UO2) to obtain the instrument resolution function.
© EDP Sciences 1998