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J. Phys. IV France
Volume 08, Numéro PR5, October 1998
Rayons X et Matière
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Page(s) | Pr5-69 - Pr5-76 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1998510 |
J. Phys. IV France 08 (1998) Pr5-69-Pr5-76
DOI: 10.1051/jp4:1998510
Analyse par diffraction des rayons X d'une couche de laiton obtenue par dépôt d'une couche de cuivre, d'une couche de zinc et diffusion
B. Bolle1, A. Tidu2 and J.J. Heizmann11 LETAM, URA 2090 GMPC/ISGMP, Université de Metz, Ile du Saulcy, 57045 Metz cedex 01, France
2 LETAM URA, 2090 GMPC/ISGMP, École Nationale d'Ingénieur de Metz, Ile du Saulcy, 57045 Metz cedex 01, France
Résumé
Les dépôts d'alliages binaires (laiton, bronze, ...) sont fréquemment obtenus par électrodéposition à partir de bains cyanurés. Cette technique permet de grandes vitesses de dépôt, mais les risques liés à l'utilisation de ces bains obligent les industriels à rechercher de nouvelles solutions. Une technique de substitution consiste à déposer une bicouche formée des deux métaux constituant l'alliage (dépôt séquentiel des deux métaux), puis à obtenir l'alliage par diffusion. Pour contrôler ce procédé, plusieurs points importants sont à vérifier après diffusion : les phases présentes dans la couche et leur quantité, ainsi que l'homogénéité de composition de ces phases. Cette étude présente les travaux réalisés pour analyser ces paramètres par diffraction des rayons X. L'analyse d'une couche de laiton obtenue par dépôt séquentiel de cuivre, de zinc et diffusion est présentée.
Abstract
Layers of binary alloys (brass, bronze, ...) are usually electroplated from cyanides baths. This technique allows high rates of deposition and works safely, but there are some risks in using cyanides. Therefore new ways of electro-deposition are investigated. One manufacturing process consists of successively depositing the two metals and of obtaining inter-metallic diffusion by heating the bilayer. Usually, it is essential to know the exact phases and their proportions, in order to control the deposition and diffusion processes. In this study, are presented X ray diffraction methods to control the layer. As an exarnple, analysis of a brass layer obtained by sequential plating plus diffusion process is given.
© EDP Sciences 1998