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J. Phys. IV France
Volume 08, Numéro PR5, October 1998
Rayons X et Matière
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Page(s) | Pr5-63 - Pr5-68 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1998509 |
J. Phys. IV France 08 (1998) Pr5-63-Pr5-68
DOI: 10.1051/jp4:1998509
Existence d'un paradoxe de Schroeder avec la membrane Nafion ? Étude par diffusion de rayons X aux petits angles
N. Cornet, G. Gebel and A. de GeyerDépartement de Recherche Fondamentale, SI3M, Groupe Polymère Conducteur Ionique, CEA-Grenoble, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble cedex 9, France
Résumé
La diffusion de rayons X aux petits angles est utilisée pour étudier le gonflement de membranes ionomères perfluorées (NafionR) et ainsi déterminer si celles-ci obéissent au paradoxe de Schroeder. Ce paradoxe correspond à une différence de gonflement entre une membrane équilibrée dans de l'eau liquide et une membrane équilibrée en présence d'une pression de vapeur saturante. Nos résultats indiquent que l'existence du paradoxe dépend du prétraitement de la membrane, c'est-à-dire de sa mémoire de gonflement.
Abstract
Water uptake of perfluorinated ionomer membranes (NafionR) is studied by small angles X-rays scattering (SAXS). The purpose is to determine if these membranes are subjected to the Schroeder paradox. This paradox is defined as a difference of water uptake for a membrane immersed in water or balanced in presence of a satured vapor pressure. Results from SAXS measurements indicate that the appearance of the paradox is dependent on the pretraitement of the membrane because of its water uptake memory.
© EDP Sciences 1998