Nouvelle méthode de quantification des orientations cristallines par figures de pôles haute résolution et ultra-rapides

Résumé
Afin d'améliorer la caractérisation des textures dans les matériaux nouveaux qui présentent des orientations cristallines toujours plus étroites (couches minces, macles, monocristaux, etc...), nous avons développé une méthode originale d'analyse à partir de figures de pôles RX à haute résolution angulaire et à grande vitesse d'acquisition. L'exploration angulaire est associée à un maillage hémisphérique adaptatif et un traitement des données de type image a été implémenté pour corriger les données instrumentales, puis interpréter et quantifier automatiquement les analyses. L'ensemble est relié à des calculs FDOC haute résolution du dispositif DOSOPHATEX.

Abstract
An improved method for texture characterization has been developed for heavy textured specimens (thin films, twins, single crystals, etc...), using a new high resolution X-Ray pole figure technique with a high speed measurement. An adaptive hemispheric scanning and a data treatment using digital image processing has been implemented for both diffractometer correction and automatic texture quantification. This method is linked to a new high resolution FDOC determination associated with the DOSOPHATEX system.