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J. Phys. IV France
Volume 08, Number PR5, October 1998
Rayons X et Matière
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Page(s) | Pr5-407 - Pr5-412 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1998551 |
J. Phys. IV France 08 (1998) Pr5-407-Pr5-412
DOI: 10.1051/jp4:1998551
Caractérisation et spéciation chimique à l'échelle micrométrique utilisant le rayonnement synchrotron
P. Chevallier1, A. Firsov2, P. Populus1 and F. Legrand11 Laboratoire Pierre Süe, CEA/Saclay et LURE, bâtiment 209D, 91405 Orsay cedex, France
2 IMT-RAS, Laboratoire d'Optique et des Technologies des Rayons X, Chemogolovka, Moscou, Russia
Résumé
L'arrivée du rayonnement synchrotron et les récents développements des optiques pour les rayons X ont permis la réalisation de microsondes photoniques. Il existe plusieurs manières d'obtenir des faisceaux de rayons X durs de taille micrométrique avec des flux suffisamment intenses pour réaliser des cartes de la distribution des éléments traces dans un échantillon. Associées avec la microdiffraction ou le micro-XANES, ces microsondes vont permettre une caractérisation très intéressante des matériaux.
Abstract
The advent of synchrotron radiation and the enormous development of X-ray optics made it possible the realization of photon microprobes. Micrometer size hard X-ray beams can be obtained through various arrangement and the flux is intense enough to undertake elemental mapping of trace elements. Associated with microdiffraction or with X-ray Absorption Near Edge Structure, these microprobes will become a very interesting tool for material characterization.
© EDP Sciences 1998