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J. Phys. IV France
Volume 03, Number C7, Novembre 1993
The 3rd European Conference on Advanced Materials and ProcessesTroisiéme Conférence Européenne sur les Matériaux et les Procédés Avancés |
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| Page(s) | C7-2073 - C7-2080 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:19937331 | |
The 3rd European Conference on Advanced Materials and Processes
Troisiéme Conférence Européenne sur les Matériaux et les Procédés Avancés
J. Phys. IV France 03 (1993) C7-2073-C7-2080
DOI: 10.1051/jp4:19937331
Cavendish Laboratory, Madingley Road, Cambridge CB3 0HE, U.K.
© EDP Sciences 1993
Troisiéme Conférence Européenne sur les Matériaux et les Procédés Avancés
J. Phys. IV France 03 (1993) C7-2073-C7-2080
DOI: 10.1051/jp4:19937331
Scanning transmission electron microscopy
L.M. BROWNCavendish Laboratory, Madingley Road, Cambridge CB3 0HE, U.K.
Without abstract
© EDP Sciences 1993
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