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| Numéro |
J. Phys. IV France
Volume 108, juin 2003
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| Page(s) | 137 - 142 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:20030614 | |
J. Phys. IV France 108 (2003) 137
DOI: 10.1051/jp4:20030614
Mesure de la durée d'émission X de différents éléments irradies par un laser de puissance subpicoseconde
C. Chenais-Popovics1, F. Dorchies2, P. Audebert1, V. Nagels1, J.P. Geindre1, J.C. Gauthier1, O. Peyrusse3, S. Gary3 and F. Girard31 Laboratoire pour l'Utilisation des Lasers Intenses, UMR 7605 du CNRS, CEA, École Polytechnique, Université Paris VI, 91 128 Palaiseau, France
2 CELIA, Université Bordeaux 1, 33405 Talence, France
3 Commissariat à l'Énergie Atomique, 91680 Bruyères-le-Châtel cedex, France
Résumé
Les sources X ultra-brèves créées par laser sont toujours l'objet de recherches fondamentales. La
mesure directe de leur durée est maintenant possible avec l'utilisation de caméras à balayage de fente de
résolution sub-picoseconde couplées à un cristal de Bragg, apportant une connaissance plus approfondie de la
source, tant au niveau de sa durée que de ses caractéristiques spectrales et spatiales. En focalisant un laser 100 TW, 300
fs, sur divers éléments (Al, Se, Sm), nous avons mesuré la durée de l'émission X dans la gamme
0.7-0.8 nm. L'émission X dure moins de 10 ps, pour les trois éléments étudiés.
© EDP Sciences 2003