Détermination, par diffraction des rayons X, de la teneur en phase amorphe de certains matériaux minéraux

Résumé
Habituellement, le principe utilisé pour déterminer la teneur en verre des matériaux consiste à soustraire de 100 % la somme des teneurs des phases cristallisées, ces dernières étant déterminées en DRX par analyse quantitative. Il existe un intérêt à tenter de développer des méthodes, basées sur la diffraction des rayons X, permettant d'évaluer directement la teneur en verre de ces matériaux ou encore de simplifier les méthodes indirectes existantes. Notre démarche vise à développer des nouvelles méthodes de mesures directes et indirectes de la teneur en phase amorphe des matériaux minéraux synthétiques (composition connue) et de production industrielle. Quatre méthodes sont proposées. Leur application sur un total de dix matériaux minéraux a permis d'obtenir des résultats cohérents, avec une précision de l'ordre de quelques pourcents, ce qui peut s'avérer suffisant pour la plupart des applications en génie civil.

Abstract
Usually, quantitative determination of amorphous phase in materials is obtained by substracting, from 100 %, the sum of al1 crystallised minerals calculated by classical QXRD methods. There is some interest in developping XRD methods that will permit either to directly evaluate amorphous content of these materials or to simplify existing indirect methods. The purpose of this paper is to develop new methods (direct and indirect) for the determination of amorphous content in synthetic and industrial materials. The application of the four methods proposed on ten different materials lead to consistent results, with a precision up to a few percent. This level of precision is usually adequate for most civil engineering applications.