Thermal stability of Gd2O3/Si(100) interfacial transition layer H. Nohira, T. Yoshida, H. Okamoto, S. Shinagawa, W. Sakai, K. Nakajima, M. Suzuki, K. Kimura, Ng Jin Aun, Y. Kobayashi et al. (6 de plus) J. Phys. IV France, 132 (2006) 273-277 Publié en ligne : 11 mars 2006 DOI: 10.1051/jp4:2006132052