Journal de Physique IV

An In Situ Reflection Mode Quick Scanning EXAFS Study of Anodic Oxide Layer Formation on Silver

D. Hecht, P. Borthen, R. Frahm et H.-H. Strehblow

J. Phys. IV France, 7 C2 (1997) C2-717-C2-722

DOI: 10.1051/jp4:1997218

D. Hecht

P. Borthen

R. Frahm

H.-H. Strehblow

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