Critical comparison of recent analysis methods of X-ray and neutron reflectivity data

Abstract
New analysis methods for X-ray and neutron reflectivity data are compared. All methods aim to deduce a general density profile across a thin film from experimental observations. Although more powerful than traditional least-squares fitting methods, they do not give in general a unique profile either. Two synthetical and two experimental examples are given to demonstrate the usefulness of the methods. Some guidelines are given for their use.

Résumé
Un comparaison est présenté de nouvelles méthodes d'analyse pour la réflectivité de rayons-X et neutrons. Toutes les méthodes ont pour but de déduire un profil de densité à travers une couche mince en utilisant des données expérimentales. Bien que ces méthodes soient plus puissantes que les méthodes moindres carrés traditionelles, elles ne donnent pas en général un profil unique. Deux exemples synthétiques et deux exemples expérimentaux sont présentés pour montrer la valeur des méthodes. Quelques directives sont données pour leur utilisation.