Microscopie de photoïonisation

C. Nicole; H.L. Offerhaus; M.J.J. Vrakking; F. Lépine; Ch. Bordas

doi:doi:10.1051/jp4:20020168

Numéro		J. Phys. IV France Volume 12, Numéro 5, June 2002


Page(s)		295 - 296
DOI		https://doi.org/10.1051/jp4:20020168

J. Phys. IV France 12 (2002) Pr5-295
DOI: 10.1051/jp4:20020168

Microscopie de photoïonisation

C. Nicole¹, H.L. Offerhaus¹, M.J.J. Vrakking¹, F. Lépine² and Ch. Bordas²

¹ FOM lnstituut voor Atoom en Molecuul Fysica (AMOLF), Amsterdam, The Netherlands
² Laboratoire de Spectrométrie tonique et Moléculaire, UMR 5579 du CNRS, bâtiment A. Kastler, 43 boulevard du 11 novembre 1918, 69622 Villeurbanne cedex, France

Résumé
Nous présentons les premiers résultats expérimentaux obtenus en microscopie de photolonisation. Les électrons issus d'un processus d'ionisation du xénon au seuil en champ électrique sont détectés par imagerie. Les interférences entre les différentes trajectoires conduisant l'électron de la source jusqu'au point d'impact sur le détecteur sont observées grâce à l'amélioration de notre spectromètre qui inclut une lentille électrostatique de grandissement. L'interférogramme observé représente la composante transverse de la fonction d'onde électronique. La structure d'interférences évolue régulièrement avec l'énergie ce qui indique que la contribution dominante est celle du continuum, les résonances Stark contribuant seulement à une modulation de cette structure.