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Numéro |
J. Phys. IV France
Volume 11, Numéro PR7, Octobre 2001
5e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et XApplications et développements récents |
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Page(s) | Pr7-165 - Pr7-169 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:2001750 |
5e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et X
Applications et développements récents
J. Phys. IV France 11 (2001) Pr7-165-Pr7-169
DOI: 10.1051/jp4:2001750
1 Lawrence Berkeley National Laboratory, U.S.A.
2 Research Institute for Solid State Physics and Optics, Budapest, Hongrie
3 Service de Physique des Matériaux et Microstructures, CEA/Grenoble, France
© EDP Sciences 2001
Applications et développements récents
J. Phys. IV France 11 (2001) Pr7-165-Pr7-169
DOI: 10.1051/jp4:2001750
Imagerie à l'échelle atomique par holographie de fluorescence
S. Marchesini1, G. Faigel2, M. Tegze2, M. Belakhovsky3 and O. Ulrich31 Lawrence Berkeley National Laboratory, U.S.A.
2 Research Institute for Solid State Physics and Optics, Budapest, Hongrie
3 Service de Physique des Matériaux et Microstructures, CEA/Grenoble, France
Résumé
De nouveaux progrès ont été obtenus dans la méthode d'holographie X par fluorescence (XFH), qui la font passer du stade de curiosité scientifique à celui d'un nouvel outil structural à l'échelle atomique. Grâce à la grande luminosité et stabilité de l'ESRF, ainsi qu'aux développements instrumentaux pour la détection ultrarapide, la XFH permet d'imager en une minute un groupe d'atomes autour de l'atome fluorescent. Quelques exemples de reconstruction d'images (atome léger, quasi-cristal, film mince) sont présentés.
© EDP Sciences 2001