Étude des propriétés élastiques de multicouches Ni/Mo en couplant un dispositif de traction à un diffractomètre de rayons X

Résumé
Les constantes élastiques des matériaux élaborés sous la forme de films minces sont méconnues et sujettes à polémiques dans le cas particulier des systèmes multicouches de faibles périodes. En déformant dans le domaine élastique l'ensemble film/substrat au sein d'un diffractomètre, il est possible de déterminer par diffraction des rayons X le coefficient de Poisson du film étudié. Nous avons appliqué cette méthode au cas d'un film mince composé d'un empilement alterné de 8 nm de molybdène et de 15 nm de nickel (13 bicouches). Les résultats obtenus sur la valeur du coefficient de Poisson dans les couches de Mo démontrent la faisabilité d'une telle mesure.

Abstract
Elastic constants of thin films are misunderstood and subject to polemic in the case of multilayer systems with low period thicknesses. When straining in the elastic domain the film/substrate set inside a diffractometer, it is then possible to determine by x-ray diffraction the Poisson's ratio of the studied film. We applied this method to a multilayer system containing 13 bilayers of 8 and 15 nm thick layers of nickel and molybdenum respectively. The results obtained on the Poisson's ratio value in molybdenum layers demonstrate the feasibility of such measurements.