Effect of coherency of domain walls on X-ray diffraction diagrams: Case a crystal with a low tetragonality

Résumé
Les diagrammes de diffraction des rayons X d'une poudre ou d'une céramique de BaTiO₃ tétragonal ont été étudiés. Une corrélation entre les caractéristiques des profils des raies de diffraction (intensité, forme, position, ...) et la microstructure en domaines ferroélectriques a été mise en évidence. A partir d'une approche numérique, le calcul des diagrammes de diffraction montre que la modification des profils des raies de diffraction du composé tétragonal est fortement dépendante de la microstructure en domaines ferroélectriques. Ce a dû prendre en compte l'existence d'un certain degré de cohérence dans les murs de domaines entre deux domaines à 90° adjacents. Il a par ailleurs été mis en évidence, une bonne similitude entre les données calculées et celles obtenues expérimentalement.

Abstract
X-ray diffraction (XRD) diagrams of tetragonal BaTiO₃ as powder or ceramic materials are analyzed. The correlation between features of the line profiles and crystal domain microstructure are evidenced. Using numerical calculations of XRD patterns, peculiarities in the tetragonal profile changes were studied depending on the parameters of the single crystal domain microstructure providing the domain walls would be coherent. It is shown that these peculiarities are similar to those that are experimentally observed.