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| Numéro |
J. Phys. IV France
Volume 09, Numéro PR5, May 1999
4e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et XApplications et développements récents |
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| Page(s) | Pr5-83 - Pr5-84 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1999527 | |
4e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et X
Applications et développements récents
J. Phys. IV France 09 (1999) Pr5-83-Pr5-84
DOI: 10.1051/jp4:1999527
GREMI, CNRS, Université d'Orléans, BP. 6759, 45067 Orléans cedex 2, France
© EDP Sciences 1999
Applications et développements récents
J. Phys. IV France 09 (1999) Pr5-83-Pr5-84
DOI: 10.1051/jp4:1999527
Caractérisation de jets gazeux par radiographie éclair et Fluorescence Induite par flash X (F.I.X.)
L. Huré, E. Robert, C. Cachoncinlle, R. Viladrosa and J.M. PouvesleGREMI, CNRS, Université d'Orléans, BP. 6759, 45067 Orléans cedex 2, France
Résumé
La radiographie est une technique largement répandue aussi bien en médecine que dans l'industrie. Elle permet de visualiser l'ombre portée d'un matériau sur un détecteur photosensible. Il n'existe, cependant, que très peu de résultats concernant le diagnostic par rayonnement X de milieux de faibles densités tels que les gaz et les plasmas. Dans ce travail, l'utilisation d'une source d'impulsions X nous a permis d'étudier des jets gazeux par deux méthodes couplées : la radiographie éclair et la Fluorescence Induite par flash X (F.I.X.).
© EDP Sciences 1999