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J. Phys. IV France
Volume 06, Numéro C4, Juillet 1996
Rayons X et Matiére100 ans déjà ... |
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Page(s) | C4-211 - C4-217 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1996419 |
100 ans déjà ...
J. Phys. IV France 06 (1996) C4-211-C4-217
DOI: 10.1051/jp4:1996419
Détermination des contraintes résiduelles par diffractométrie X des couches biphasées. Application au cas de la cémentation
F. Bloquel1, L. Barrallier2, G. Bourse1 and J. Dürr11 Ecole des Mines de Douai, Département Matériaux Métalliques, 941 rue Charles Bourseul, BP. 838, 59508 Douai cedex, France
2 ENSAM, Laboratoire MécaSurf, 2 cours des Arts et Métiers, 13617 Aix-en-Provence cedex, France
Résumé
L'objectif de ce travail est de déterminer par diffraction des rayons X les contraintes résiduelles dans les deux phases présentes en surface des aciers cémentés : la martensite et l'austénite résiduelle. Une caractérisation fondée sur la diffraction des rayons X (quantification de phases, mesures de paramètres de maille, contraintes résiduelles) permet d'obtenir des résultats nécessaires à la compréhension de la genèse des contraintes résiduelles de cémentation.
Abstract
The aim of this work is the X-ray determination of residual stresses in the two surface phases of carburized steels : martensite and retained austenite. A characterization, based on X-ray diffraction (retained austenite fraction, cell parameters measurements, residual stresses), allows the obtention of results which are necessary for the understanding of the residual stresses growth.
© EDP Sciences 1996