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J. Phys. IV France
Volume 124, Mai 2005
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Page(s) | 195 - 199 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:2005124028 |
J. Phys. IV France 124 (2005) 195-199
DOI: 10.1051/jp4:2005124028
Caractérisation physique et mécanique de l'acier 4140 nitruré et implanté
Y. Benarioua1, D. Chicot2 and J. Lesage21 Département de Génie Mécanique, Faculté des Sciences de l'Ingénieur, Université Mohamed Boudiaf de M'sila, BP. 166, M'sila 28000, Algérie
2 Laboratoire de Mécanique de Lille (LML), URA CNRS 1441, UST Lille IUTA Dépt. G.M.P., Le Recueil, 59653 Villeneuve d'Ascq Cedex, France
Résumé
La nitruration est un procédé thermochimique destiné à améliorer les
propriétés chimiques et mécaniques des aciers et des fontes. Les
procédés les plus courant sont la nitruration gazeuse, la
nitruration en bain de sels et la nitruration ionique par plasma. Cette
dernière présente certains avantages par rapport aux deux
précédentes, elle est moins polluante, consomme moins d'énergie
et permet un traitement local. De manière générale, quel que
soit le procédé utilisé, le processus de nitruration des aciers se
caractérise par la diffusion d'azote à partir de la surface vers le
coeur du matériau et par la formation d'une couche de combinaison
superficielle après une période d'incubation. Si le temps du traitement
est suffisamment long, on constate un ralentissement de la croissance de la
couche de combinaison alors que la diffusion de l'azote se poursuivre vers le
coeur de la pièce en formant une solution solide d'insertion dans la
nitroferrite ou des précipités de nitrures ou de carbonitrures
d'éléments alliés. Pour ce travail et en vue d'améliorer le
comportement mécanique des échantillons, les aciers nitrurés
ioniquement pour deux taux d'activation ont subi un traitement
supplémentaire d'implantation d'ions d'azote. La caractérisation, tant
du point de vue microstructurale que mécanique, des couches obtenues à
partir de la nitruration ionique avec ou sans implantation ionique a été
effectué et les moyens utilisés dans cette étude sont la
microdureté, diffraction de rayons X, microscopies optique et
électronique à balayage.
© EDP Sciences 2005