J. Phys. IV France 108 (2003) 195
DOI: 10.1051/jp4:20030626

Émission X(L) du xénon par interaction laser-agrégats

L. Adoui¹, O. Gobert², P. Indelicato³, E. Lamour⁴, P. Meynadier², D. Normand², M. Perdrix², C. Prigent⁴, J.-P. Rozet⁴ and D. Vernhet<sup>4

1</sup>  CIRIL, rue Claude Bloch, BP. 5133, 14070 Caen cedex 5, France
²  CEA-Saclay, DSM/DRECAM/SPAM, 91191 Gif-sur-Yvette cedex, France
³  LKB, ENS et Université Paris VI, 4 place Jussieu, 75252 Paris cedex 05, France
⁴  GPS-PIIM, Universités Paris VI et Paris VII, 2 place Jussieu, 75251 Paris cedex 05, France

Résumé
Nous avons étudié le rayonnement X provenant d'ions fortement multichargés ( 24+) présentant des lacunes en couche L produits lors de l'irradiation d'agrégats de xénon par des impulsions lumineuses issues d'un laser femtoseconde de puissance. Les résultats obtenus lors de la toute dernière campagne d'expériences réalisée auprès du serveur LUCA du SPAM/DRECAM au CEA/Saclay mettent en cause certains travaux antérieurs [4-6]. Des divergences marquées apparaissent tant au niveau de l'interprétation des spectres X que sur la variation du taux d'émission en fonction de l'éclairement et de la longueur d'onde.

© EDP Sciences 2003