Développement expérimental d'une ligne PIXE-XRF pour les matériaux du patrimoine

Résumé
L'analyse élémentaire d'objets d'art ou d'archéologie exige l'emploi de méthodes non destructives possédant une sensibilité suffisante- pour les éléments traces. La méthode PIXE (acronyme pour Particle Induced X-ray Emission) satisfait à cette condition tout en se heurtant à deux contraintes majeures : le risque de détérioration de matériaux sensibles tels que les matériaux organiques et la faible sensibilité pour l'analyse d'impuretés légères dans les matrices lourdes. Nous avons développé une nouvelle ligne expérimentale sur l'accélérateur de particules du Centre de recherche et de restauration des musées de France, permettant de s'affranchir de ces deux limitations en recourant à une variante de la fluorescence des rayons X, dénommée PIXE-XRF (XRF pour X-Ray Fluorescence). L'extraction à l'air du faisceau permet une souplesse du dispositif nettement améliorée.