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J. Phys. IV France
Volume 07, Number C6, Décembre 1997
Surfaces et Interfaces des Matériaux Avancés / Surfaces and Interfaces of Advanced Materials
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Page(s) | C6-31 - C6-40 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1997603 |
J. Phys. IV France 07 (1997) C6-31-C6-40
DOI: 10.1051/jp4:1997603
Étude des surfaces et interfaces à l'aide de la nouvelle génération de synchrotrons
G. MargaritondoInstitut de Physique Appliquée, École Polytechnique Fédérale, 101 5 Lausanne, Switzerland, et, Sincrotrone Trieste, Trieste, Italy
Résumé
Deux ans après leur mise en fonction et sur la base de l'ample expérience pratique acquise par des centaines de scientifiques, les sources de rayonnement synchrotron de la troisième génération sont prêtes à être soumises à une analyse critique de leurs performances. Les questions qui s'imposent sont donc les suivantes : peut-on confirmer que la brillance était le bon choix pour les sources de cette nouvelle génération ? Peut-on effectivement constater l'impact du haut niveau de brillance sur des applications réelles ? Nous essayerons de répondre à ces questions dans le domaine spécifique de la physique et chimie des surfaces et interfaces, à l'aide d'une série d'exemples provenant principalement du laboratoire ELETTRA en Italie.
Abstract
Two years after their commissioning, the third-generation synchrotron source are ripe for a critical analysis of their performances, based on the broad practical experience of hundreds of scientists. The most relevant questions are : can one confirm that high brightness was the best choice for the sources of this new generation ? Can one actually see the impact of the high brightness level on real applications ? We try to answer these questions in the specific domain of surface and interface chemistry and physics, using a series of examples, primarily provided by the ELETTRA laboratory in Italy.
© EDP Sciences 1997