Development of Recrystallization Textures in Deep-Drawing Steels, Measured by X-Ray Diffraction and EBSD

Résumé
Le développement de textures de recristallisation a été étudié dans deux aciers à bas carbone destinés à l'emboutissage profond à l'aide de mesures globales de textures (par diffraction des rayons X) et locales d'orientations (par EBSD, Electron Back Scattering Diffraction ou diffraction des électrons rétro-diffusés). Les mesures globales permettent de caractériser de façon quantitative les textures de recristallisation et les mesures locales nous permettent de mettre en évidence une partie des mécanismes de germination et croissance qui sont à l'origine de ces textures. On montre ainsi que l'on a germination et croissance préférentielles des orientations de type {111} <uvw>, parfois accompagnée de germination d'orientations aléatoires suivie d'une croissance limitée de celles-ci en présence de particules grossières de cémentite.

Abstract
The development of recrystallization textures in two low carbon steels used for deep drawing has been investigated through measurements of global textures (by X-Ray diffraction) and local orientations (by EBSD, Electron Back Scattering Diffraction). The global measurements allow a quantitative description of the recrystallization textures whereas the local measurements allow to identify some of the nucleation and growth mechanisms responsible for the development of the recrystallization textures. It is thus shown that preferred nucleation and growth of the {111} <uvw> grains takes place in both steels, sometimes accompanied by nucleation of random orientations and limited growth of these grains, in the presence of coarse cementite particles.