Journal de Physique IV

Diffraction des rayons X sur couches minces polycristallines ou épitaxiées. Utilisation d'un montage en réflexion asymétrique équipé d'un détecteur courbe à localisation

C. Mary, P. Lenormand, R. Guinebretière, A. Lecomte et A. Dauger

J. Phys. IV France, 10 PR10 (2000) Pr10-377-Pr10-386

DOI: 10.1051/jp4:20001040

C. Mary

P. Lenormand

R. Guinebretière

A. Lecomte

A. Dauger

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