Journal de Physique IV

X-ray reflectivity and non-specular scattering investigation of amorphous W/Si multilayers after rapid thermal annealing

M. JERGEL, E. MAJKOVÁ et Š. LUBY

J. Phys. IV France, 03 C8 (1993) C8-337-C8-340

DOI: 10.1051/jp4:1993868

M. JERGEL

E. MAJKOVÁ

Š. LUBY

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