Détermination, par diffraction des rayons X, de la teneur en phase amorphe de certains matériaux minéraux M. Cyr, B. Husson et A. Carles-GibergueJ. Phys. IV France, 08 PR5 (1998) Pr5-23-Pr5-30DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998504
