Détermination des contraintes résiduelles par diffractométrie X des couches biphasées. Application au cas de la cémentation F. Bloquel, L. Barrallier, G. Bourse et J. DürrJ. Phys. IV France, 06 C4 (1996) C4-211-C4-217DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996419
