Numéro
J. Phys. IV France
Volume 06, Numéro C4, Juillet 1996
Rayons X et Matiére
100 ans déjà ...
Page(s) C4-211 - C4-217
DOI https://doi.org/10.1051/jp4:1996419
Rayons X et Matiére
100 ans déjà ...

J. Phys. IV France 06 (1996) C4-211-C4-217

DOI: 10.1051/jp4:1996419

Détermination des contraintes résiduelles par diffractométrie X des couches biphasées. Application au cas de la cémentation

F. Bloquel1, L. Barrallier2, G. Bourse1 and J. Dürr1

1  Ecole des Mines de Douai, Département Matériaux Métalliques, 941 rue Charles Bourseul, BP. 838, 59508 Douai cedex, France
2  ENSAM, Laboratoire MécaSurf, 2 cours des Arts et Métiers, 13617 Aix-en-Provence cedex, France


Résumé
L'objectif de ce travail est de déterminer par diffraction des rayons X les contraintes résiduelles dans les deux phases présentes en surface des aciers cémentés : la martensite et l'austénite résiduelle. Une caractérisation fondée sur la diffraction des rayons X (quantification de phases, mesures de paramètres de maille, contraintes résiduelles) permet d'obtenir des résultats nécessaires à la compréhension de la genèse des contraintes résiduelles de cémentation.


Abstract
The aim of this work is the X-ray determination of residual stresses in the two surface phases of carburized steels : martensite and retained austenite. A characterization, based on X-ray diffraction (retained austenite fraction, cell parameters measurements, residual stresses), allows the obtention of results which are necessary for the understanding of the residual stresses growth.



© EDP Sciences 1996