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Article cité :

Micrometer resolved inspection of defects and laser damage sites in UV high-reflecting coatings by photothermal displacement microscopy

A. Bodemann, N. Kaiser, M. Reichling, E. Welsch

J. Phys. IV France, 04 C7 (1994) C7-611-C7-614

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:19947144

PDF (1.379 MB)

Citations de cet article :

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Alexandre Gatto and Mireille Commandré
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Damage threshold prediction of hafnia-silica multilayer coatings by nondestructive evaluation of fluence-limiting defects

Zhouling Wu, Christopher J. Stolz, Shannon C. Weakley, James D. Hughes and Qiang Zhao
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