Modeling of self-heating effects in thin-film soi MOSFET's as a function of temperature
J. Phys. IV France, 04 C6 (1994) C6-57-C6-62
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Experimental Analysis and Modeling of Self-Heating and Thermal Coupling in 28 nm FD-SOI CMOS Transistors Down to Cryogenic Temperatures
Flávio Enrico Bergamaschi, Tadeu Mota Frutuoso, Bruna Cardoso Paz, Gérard Billiot, Aloysius G. M. Jansen, Phillipe Galy, Emmanuel Vincent, Fred Gaillard, Blandine Duriez and Mikaël CasséIEEE Transactions on Electron Devices 71 (4) 2598 (2024)
https://doi.org/10.1109/TED.2024.3367316