| Numéro |
J. Phys. IV France
Volume 138, December 2006
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|---|---|---|
| Page(s) | 63 - 72 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:2006138008 | |
| Publié en ligne | 6 janvier 2007 | |
R. Moncorgé et J.L. Doualan
J. Phys. IV France 138 (2006) 63-72
DOI: 10.1051/jp4:2006138008
Source X-UV pour la spectroscopie d'absorption en régime femtoseconde
L. Lecherbourg1, 2, S. Fourmaux1, J.C. Kieffer1, F. Martin1, H. Pépin1, M. Chaker1, S. Magnan3 and C.Y. Coté31 INRS-emt, Univ. du Québec, Varennes, J3X 1S2, Canada
2 LULI, 91192 Palaiseau, France
3 AXIS Photonique Inc., Varennes, J3X 1S2, Canada
(Publié en ligne le 6 janvier 2007)
Résumé
Les processus dynamiques se produisant
lors de transitions de phase ultra-rapide peuvent être déduits à
partir de mesures de diffraction ou d'absorption de rayonnement X. Les
lasers femtosecondes ont récemment été utilisés pour
étudier la dynamiques de la matière au moyen d'une pompe optique et
d'une sonde X : du rayonnement X K alpha produit par interaction laser
plasma. Nous présentons nos plus récents résultats concernant le
développement d'un sytème de spectroscopie d'absorption du
rayonnement X (XAS) basée sur une source laser-plasma large bande dans
la gamme 1-5 nm permettant d'atteindre une résolution temporelle
femtoseconde. Le système est conçu pour sonder les dynamiques
électroniques ayant lieu durant la transion de phase
semiconducteur-métal du dyoxide de vanadium (VO2) lorsque celle-ci est
initiée par une impulsion laser femtoseconde. Dans la présente
expérience, un spectre large bande proche du seuil L du vanadium (511 eV) et du seuil K de l'oxygène (525 eV) du VO2 a été
généré et mesuré avec un haut rapport signal sur bruit
(100), une grande résolution spectrale (
,
et une résolution temporelle de 1,2 ps.
© EDP Sciences 2006